[发明专利]基于De序列和相位编码的单帧结构光深度获取方法有效
申请号: | 201610160762.7 | 申请日: | 2016-03-21 |
公开(公告)号: | CN105844633B | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 李甫;窦平方;石光明;杨莉莉;牛毅;高哲峰;张志峰 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06T7/521 | 分类号: | G06T7/521;G06T7/529 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于De序列和相位编码的单帧结构光深度获取方法,主要解决现有单帧技术精度低、多帧技术难以实现动态场景深度获取的问题。其技术方案为:利用像素亮度值作为相位编码信息,根据模板的RGB不同颜色通道信息进行De序列编码辅助相位周期解码;对摄像机采集的待测场景变形图像,分别提取图像中像素点的颜色信息和亮度信息;通过亮度信息利用Gabor滤波器卷积得到相位编码信息,通过颜色信息利用De序列解码确定截断相位周期;根据相位立体匹配原则,利用三角测距原理,得到物体的深度数据。本发明通过一幅投射模板,实现了高空间分辨率的深度数据获取,可用于动态场景的高精度高分辨率深度获取。 | ||
搜索关键词: | 基于 de 序列 相位 编码 结构 深度 获取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于De序列和相位编码的单帧结构光深度获取方法,包括:(1)设计强度变化且包含相位编码和颜色编码的混合编码模板P:(1a)采取余弦函数进行相位编码,计算编码模板中像素点(i,j)处的亮度值P0(i,j):
其中,T为余弦函数的周期,A表示余弦函数的直流分量,B表示调制振幅,
为编码中余弦的初始相位,取值为
(1b)采用二元三阶De Brujin序列的00011101顺序循环组合进行颜色编码,其中基元0、1分别采用绿色、红色表示,条纹宽度为T,计算红色条纹亮度值Pr(i,j),绿色条纹亮度值Pg(i,j):Pr(i,j)=C(i,j)P0(i,j)Pg(i,j)=[1‑C(i,j)]P0(i,j)其中,C(i,j)表示像素点(i,j)处的基元值,红色条纹取值为1,绿色条纹取值为0,P(i,j)表示相位编码中得到的像素点(i,j)的亮度值;(1c)得到混合编码模板P中每个像素点像素值P(i,j):
其中,Pr(i,j)、Pg(i,j)为颜色编码中红色、绿色条纹亮度值,T为彩色条纹宽度值,
为向下取整运算符;(2)水平放置投影仪R与摄像机V,并使二者光轴平行,通过投影仪R将混合编码模板P投影到三维物体O上,用摄像机V拍摄经过待测物体O调制过的变形条纹图像U;(3)将变形条纹图像U与波长为λ、滤波方向为θ、初始相位为ψ的一维Gabor滤波器进行卷积,求取像素点(x,y)处的截断相位φ(x,y);(4)计算变形条纹图像U的每一个像素(x,y)的颜色编码信息C(x,y):
其中,x,y分别为变形条纹图像中像素点(x,y)的行列坐标,Ur(x,y),Ug(x,y)分别为RGB图像中像素点(x,y)红色通道、绿色通道分量的强度值;(5)利用投票机制矫正,通过嵌入的De Bruijn序列空间编码信息Pr、Pg和变形条纹图像U中的颜色编码信息C(x,y),求解截断相位需要延拓的周期数n:(5a)遍历同一个条纹上的码值,将投票占有多数的基元码值标定为正确的码值;(5b)对每三位码值组成的序列进行解码,得到该序列对应序号N,即当序列为000时N为0,当序列为001时N为1,当序列为011时N为2,当序列为111时N为3,当序列为110时N为4,当序列为101时N为5,当序列为010时N为6,当序列为100时N为7;(5c)对于给定的参考平面L、参考平面距离Dr、摄像机中心坐标(Cx,Cy,Cz)、投影仪中心R,根据成像原理计算参考平面上某点G的坐标(Gx,Gy,Gz):
其中,(Bx,By,Bz)为空白场景中摄像机获得的变形条纹图像U中与G对应点B的坐标;(5d)根据投影仪中心R、模板上空白场景下与G对应的点F与场景中G的几何关系,计算F点坐标(Fx,Fy,Fz):
其中,f表示投影仪的焦距,综合以上(5c)和(5d)两式得到F点坐标(Fx,Fy,Fz):
(5e)根据坐标转换关系得到F点对应的成像平面坐标(xF,yF),计算变形条纹图像U中B点所在条纹对应的De Bruijn序列周期延拓周期数S:
其中,T为De Bruijn序列中条纹的宽度,
为向下取整算子;(5f)根据步骤(5b)和(5e)的结果,计算条纹的最终编号n:n=N+8S;(6)计算像素点(x,y)处的绝对相位:Φ(x,y)=φ(x,y)+2nπ(7)根据三角测距原理与绝对相位值Φ,计算待测物体的三维信息值。
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