[发明专利]薄膜晶体管的制作方法在审

专利信息
申请号: 201610147135.X 申请日: 2016-03-15
公开(公告)号: CN105810573A 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 卢马才 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01L21/266;H01L21/336
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种薄膜晶体管的制作方法,其包括:提供一衬底基板;在衬底基板上沉积缓冲层,并对缓冲层进行图形化处理,以形成薄膜晶体管的有源区;在衬底基板上依次沉积绝缘层以及第一金属层;在第一金属层的栅极区以及低掺杂区上涂布光阻;对第一金属层的栅极区以及低掺杂区之外的区域进行金属刻蚀,以露出绝缘层;对光阻进行灰化处理,以露出第一金属层的低掺杂区;对低掺杂区的第一金属层进行金属刻蚀,以形成金属半透掩膜;对有源区进行离子注入,以形成薄膜晶体管的源极区、源极低掺杂区、沟道区、漏极低掺杂区以及漏极区;对光阻进行去除操作。
搜索关键词: 薄膜晶体管 制作方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,包括:提供一衬底基板;在所述衬底基板上沉积缓冲层,并对所述缓冲层进行图形化处理,以形成所述薄膜晶体管的有源区;在所述衬底基板上依次沉积绝缘层以及第一金属层;在所述第一金属层的栅极区以及低掺杂区上涂布光阻,其中所述有源区在所述第一金属层上的投影覆盖所述栅极区和所述低掺杂区;对所述第一金属层的栅极区以及低掺杂区之外的区域进行金属刻蚀,以露出所述绝缘层;对所述光阻进行灰化处理,以露出所述第一金属层的低掺杂区;对所述低掺杂区的第一金属层进行金属刻蚀,以形成金属半透掩膜;对所述有源区进行离子注入,以形成所述薄膜晶体管的源极区、源极低掺杂区、沟道区、漏极低掺杂区以及漏极区;以及对所述光阻进行去除操作。
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