[发明专利]薄膜晶体管阵列面板及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201610125243.7 申请日: 2016-03-07
公开(公告)号: CN105762155A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 吕晓文 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种薄膜晶体管阵列面板及其制作方法。薄膜晶体管阵列面板包括基板、缓冲层、第一绝缘层、薄膜晶体管、第二绝缘层、显示器件层。薄膜晶体管包括多晶硅层、栅极、源极、漏极。多晶硅层包括第一、第二和第三区域,第一区域位于第二和第三区域之间;第二区域包括第四、第五和第六区域,第五区域位于第四和第六区域之间,第四区域位于第一和第五区域之间;第三区域包括第七、第八和第九区域,第八区域位于第七和第九区域之间,第七区域位于第一和第八区域之间;第六、第四、第九、第七区域分别掺杂有第一、第二、第三、第四离子;栅极与第一区域对应,源极与第六区域对应,漏极与第九区域对应。本发明能降低薄膜晶体管的漏电流。
搜索关键词: 薄膜晶体管 阵列 面板 及其 制作方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管阵列面板,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列面板包括:基板;缓冲层;第一绝缘层;薄膜晶体管,所述薄膜晶体管包括:多晶硅层,所述多晶硅层设置于所述缓冲层和所述第一绝缘层之间;栅极,所述栅极设置在所述第一绝缘层上;源极;以及漏极;第二绝缘层;显示器件层;其中,所述多晶硅层包括第一区域、第二区域和第三区域,所述第一区域位于所述第二区域和所述第三区域之间;所述第二区域包括第四区域、第五区域和第六区域,所述第五区域位于所述第四区域和所述第六区域之间,所述第四区域位于所述第一区域和所述第五区域之间,所述第六区域掺杂有第一离子,所述第四区域掺杂有第二离子;所述第三区域包括第七区域、第八区域和第九区域,所述第八区域位于所述第七区域和所述第九区域之间,所述第七区域位于所述第一区域和所述第八区域之间,所述第九区域掺杂有第三离子,所述第七区域掺杂有第四离子;所述栅极所在的位置与所述第一区域对应,所述源极与所述多晶硅层中位于所述第六区域的部分接触,所述漏极与所述多晶硅层中位于所述第九区域的部分接触。
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