[发明专利]SOC芯片漏电流的分档自动测试装置及方法有效
| 申请号： | 201610093767.2 | 申请日： | 2016-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN105699877B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 廖裕民;陈丽君 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 林晓琴 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种SOC芯片漏电流的分档自动测试装置及方法，包括场景设置存储单元、门阀值存储单元、扫描控制模块、电流判断单元、EFUSE烧写控制单元、EFUSE电路单元；所述场景设置存储单元连接扫描控制模块；门阀值存储单元连接电流判断单元；扫描控制模块通过钳位有效控制信号线连接每个电源域的钳位单元环，通过关电控制信号线连接每个电源域的MTCOMS电源开关环；扫描控制模块还连接测试模式信号及所述电流判断单元；每个钳位单元环均通过一电流计连接电流判断单元；电流判断单元、EFUSE烧写控制单元、EFUSE电路单元依次连接。本发明是在CP测试阶段对芯片进行测试,以对每个电源域进行单独测试并记录。 | ||
| 搜索关键词： | 电流判断单元 扫描控制模块 存储单元 电源域 自动测试装置 场景设置 电路单元 钳位单元 漏电流 线连接 分档 门阀 烧写 有效控制信号 测试 电控制信号 测试阶段 电源开关 连接测试 模式信号 依次连接 电流计 钳位 芯片 记录 | ||
【主权项】：
1.一种SOC芯片漏电流的分档自动测试装置，所述SOC芯片具有复数个电源域，每个电源域外设有一MTCMOS电源开关环，每个MTCMOS电源开关环外设有一钳位单元环，其特征在于：所述分档自动测试装置包括场景设置存储单元、门阀值存储单元、扫描控制模块、电流判断单元、EFUSE烧写控制单元以及EFUSE电路单元；所述场景设置存储单元连接扫描控制模块；所述门阀值存储单元连接电流判断单元；所述扫描控制模块通过钳位有效控制信号线连接每个所述钳位单元环，通过关电控制信号线连接每个所述MTCMOS电源开关环；并通过复位控制信号线连接到对应电源域电路中所有寄存器单元的复位控制端；所述扫描控制模块还连接测试模式信号及所述电流判断单元；每个所述钳位单元环均通过一电流计连接所述电流判断单元；所述电流判断单元、EFUSE烧写控制单元、EFUSE电路单元依次连接；且所述电流判断单元还输出漏电流过高电源域指示位信号。
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