[发明专利]图案化接地以及形成图案化接地的方法在审

专利信息
申请号: 201580046601.9 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN106663669A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: U-M·乔;Y·K·宋;J·H·尹;J-H·李;X·张 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/498;H01L23/522;H01L23/64
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 杨丽,李小芳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据本公开的一些示例的一种半导体封装可包括第一主体层(250),可包括位于第一主体层之上的一个或多个电感器、耦合电感器、或电感性元件的变压器(220)。第一接地平面(260)在第一主体层(250)与该电感性元件(220)之间的第一主体层的顶部上。第一接地平面可具有与由该电感性元件所生成的磁场大致垂直的导线,以及在第一主体层的底部上与第一接地平面对向的第二接地平面(270)。第一接地平面和第二接地平面还可为半导体提供热耗散元件(280)以及减少或消除由该电感性元件所产生的涡流电流和寄生效应。
搜索关键词: 图案 接地 以及 形成 方法
【主权项】:
一种集成电路封装,包括:第一主体层;位于所述第一主体层之上的电感性元件;在所述第一主体层与所述电感性元件之间的在所述第一主体层顶部上的第一接地平面,所述第一接地平面具有与由所述电感性元件所生成的磁场大致垂直的导线;以及所述第一主体层的底部上与所述第一接地平面对向的第二接地平面。
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