[实用新型]半导体制程用全自动脱环机有效
申请号: | 201520293434.5 | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN204632735U | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
发明(设计)人: | 廖鸿有;许志禧;李维堂;锺佳闵 | 申请(专利权)人: | 世锜科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 朱振德 |
地址: | 中国台湾桃*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体制程用全自动脱环机,用于拆解一半导体晶粒检测治具,半导体晶粒检测治具包含一内环以及套于内环外缘的一外环,其包含一载台以及一压台。载台用于承载半导体晶粒检测治具,载台上设有环列配置的复数个顶杆,而且外环被该些顶杆所支撑,压台上朝向载台凸设有一环壁,而且环壁的直径小于该些顶杆环列的直径并且与内环的直径相对应。压台能够与载台相对向移动而使环壁推抵内环,压台将内环推离外环并且将内环推入该些顶杆所围设范围之内,以此能够自动化地分离内环及外环。 | ||
搜索关键词: | 半导体 制程用 全自动 脱环机 | ||
【主权项】:
一种半导体制程用全自动脱环机,用于拆解一半导体晶粒检测治具,所述半导体晶粒检测治具包含一内环以及套于所述内环外缘的一外环,其特征在于,该半导体制程用全自动脱环机包含:用于承载所述半导体晶粒检测治具的一载台,该载台上设有环列配置的复数个顶杆,而且所述外环被各该顶杆所支撑;以及一压台,该压台上朝向该载台凸设有一环壁,而且该环壁的直径小于各该顶杆环列的直径并且与所述内环的直径相对应;其中,该压台能够与该载台相对向移动而使该环壁推抵所述内环,该压台将所述内环推离所述外环并且将所述内环推入各该顶杆所围设范围之内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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