[发明专利]一种防止高K材料氧扩散的方法有效

专利信息
申请号: 201511002977.8 申请日: 2015-12-28
公开(公告)号: CN105575988B 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 曾绍海;李铭 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/02
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;尹英
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种防止高K材料氧扩散的方法,通过在超薄界面层和高K材料界面处增加淀积一层金属Ru作为缓冲层,并在高K材料淀积完好后进行退火,使高K材料中的氧和金属Ru结合,形成稳定的RuO2,从而可防止氧和衬底中的硅反应形成氧扩散;同时,还可阻止超薄界面层中的OH和高K材料生成Hf的亚氧化物HfO2H2x,避免电子由Hf向功函数金属转移形成界面,造成有效功函数的降低,从而提高了电路的电学特性和可靠性。
搜索关键词: 一种 防止 材料 扩散 方法
【主权项】:
1.一种防止高K材料氧扩散的方法,其特征在于,包括:步骤一:提供一硅衬底,在所述硅衬底上采用化学氧化方法淀积一层超薄界面层;步骤二:在所述超薄界面层上淀积一层金属Ru作为缓冲层;步骤三:在所述金属Ru上继续淀积高K材料;步骤四:退火,使所述高K材料中的氧和金属Ru结合,形成稳定的RuO2,防止氧和衬底中的硅反应形成氧扩散;同时,阻止超薄界面层中的OH—和高K材料生成Hf的亚氧化物。
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