[发明专利]一种广泛适用的斑点束平行透镜设计方法在审

专利信息
申请号: 201510710366.2 申请日: 2015-10-28
公开(公告)号: CN106653586A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 王高腾 申请(专利权)人: 北京中科信电子装备有限公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01J37/30;H01J37/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 101111 北京市通*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种广泛适用的斑点束平行透镜磁铁边界形状设计方法,属于半导体装备领域。如图1所示是斑点束平行透镜磁铁及斑点束线的俯视图,斑点束平行透镜磁铁设计方法包括1、平行透镜入口焦点位置O点;2、束线中心轨迹上入口焦点与平行透镜入口距离L;3、束线扫描角度θ;4、束线在平行透镜中的偏转半径R;5、束线出平行透镜期望的偏转角度Θ;6、束线经过平行透镜后的期望束宽Δ;该设计方法的主要思想是,首先确定平行透镜入口焦点位置O点后,给出束线中心轨迹上入口焦点与平行透镜入口距离L及要求的束线扫描角度θ,根据这三个参量可求出平行透镜磁铁的入口边界方程。同样,根据束线在平行透镜中的偏转半径R、束线出平行透镜期望的偏转角度Θ及束线经过平行透镜后的期望束宽Δ,根据这三个参量可求出平行透镜磁铁的出口边界方程。
搜索关键词: 一种 广泛 适用 斑点 平行 透镜 设计 方法
【主权项】:
一种广泛适用的斑点束平行透镜磁铁设计方法,包括:平行透镜入口焦点位置O点;束线中心轨迹上入口焦点与平行透镜入口距离L;束线扫描角度θ;束线在平行透镜中的偏转半径R;束线出平行透镜期望的偏转角度Θ;束线经过平行透镜后的期望束宽Δ。
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