[发明专利]通过划片和腐蚀形成隔离槽的高压LED芯片制备方法在审

专利信息
申请号: 201510686798.4 申请日: 2015-10-22
公开(公告)号: CN105336822A 公开(公告)日: 2016-02-17
发明(设计)人: 吴向龙;彭璐;刘琦;王成新;徐现刚 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 济南日新专利代理事务所 37224 代理人: 王书刚
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种通过划片和腐蚀形成隔离槽的高压LED芯片制备方法,包括以下步骤:(1)得到GaN基外延片;(2)刻蚀出N型台面结构;(3)在外延片表面形成保护层;(4)沿N型台面通过激光划片机划至衬底,得到晶圆;(5)将晶圆进行高温腐蚀,去掉保护层,形成隔离槽;(6)在p型GaN层的表面形成透明导电层;(7)制作钝化层;(8)制备P电极、N电极以及连接两晶粒的金属引线;(9)将晶圆减薄、划裂后得到高压LED芯片。本发明通过激光划片和高温腐蚀形成隔离槽,不仅解决了高压芯片短路失效、开启电压低等不良,还具有工艺简单、良率高等优点;另外,由于已进行过激光划片,因此减薄后可以直接进行裂片,简化了后续工艺流程。
搜索关键词: 通过 划片 腐蚀 形成 隔离 高压 led 芯片 制备 方法
【主权项】:
一种通过划片和腐蚀形成隔离槽的高压LED芯片制备方法,所述高压LED芯片包括由下而上依次设置的衬底、n型GaN层、量子阱层、p型GaN层、透明导电层和钝化层,在ITO透明导膜电层、n型GaN层和钝化层上分别设置有p电极、n电极和金属引线;其特征是,包括以下步骤:(1)在衬底上依次生长GaN缓冲层、n型GaN层、量子阱层和p型GaN层,得到GaN基外延片;(2)沿GaN基外延片的p型GaN层到n型GaN层刻蚀出N型台面结构;(3)在步骤(2)得到的外延片整个表面上形成一层保护层;(4)沿步骤(3)得到的外延片的N型台面通过激光划片机划至衬底,得到晶圆;(5)将步骤(4)所得晶圆进行高温腐蚀,把激光划片产生的碎屑清洗干净,然后去掉保护层,形成隔离槽;(6)在步骤(5)所得晶圆的p型GaN层的表面形成透明导电层;(7)在步骤(6)所得晶圆表面制作钝化层;(8)在步骤(7)所得晶圆上制备P电极、N电极以及连接两晶粒的金属引线;(9)将上述晶圆减薄、划裂后得到高压LED芯片。
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