[发明专利]电子芯片的测试系统、方法及装置有效
| 申请号： | 201510532993.1 | 申请日： | 2015-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN105161139B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 彭俊良 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;张永明 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子芯片的测试系统、方法及装置。其中，该系统包括：可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；待测芯片，用于按照可编程处理器输出的测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试；以及控制器，用于对待测芯片的测试过程进行控制。本发明解决了相关技术中电子芯片的自动测试系统因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试图像 待测芯片 电子芯片 像素点 子图像 灰度 可编程处理器 自动测试系统 测试系统 软件开发周期 预处理 测试 测试过程 硬件成本 控制器 还原 发送 图像 芯片 输出 | ||
【主权项】：
1.一种电子芯片的测试系统，其特征在于，包括：可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，所述测试图像为用于测试所述待测芯片的图像；所述待测芯片，用于按照所述可编程处理器输出的所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原所述测试图像，并利用所述测试图像进行测试；以及控制器，用于对所述待测芯片的测试过程进行控制；所述可编程处理器包括：存储模块，用于存储预设算法，所述预设算法中存储有所述测试图像的像素点与灰度值的对应关系，其中，所述可编程处理器按照所述对应关系将所述测试图像的像素点的灰度值发送至所述待测芯片。
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