[发明专利]电子芯片的测试系统、方法及装置

权利要求书

1.一种电子芯片的测试系统，其特征在于，包括：

可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，所述测试图像为用于测试所述待测芯片的图像；

所述待测芯片，用于按照所述可编程处理器输出的所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原所述测试图像，并利用所述测试图像进行测试；以及

控制器，用于对所述待测芯片的测试过程进行控制；

所述可编程处理器包括：

存储模块，用于存储预设算法，所述预设算法中存储有所述测试图像的像素点与灰度值的对应关系，

其中，所述可编程处理器按照所述对应关系将所述测试图像的像素点的灰度值发送至所述待测芯片。

2.根据权利要求1所述的电子芯片的测试系统，其特征在于，所述可编程处理器对所述测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像包括：

所述可编程处理器将所述测试图像划分为N个相同的子图像，

其中，所述可编程处理器中存储有一个子图像，所述可编程处理器向所述待测芯片发送所述子图像的次数为N。

3.根据权利要求2所述的电子芯片的测试系统，其特征在于，所述可编程处理器包括：

存储模块，用于存储所述子图像，包括所述子图像的像素值以及所述子图像中每个像素点的灰度值，其中，所述子图像的数据量小于所述存储模块的存储容量。

4.根据权利要求3所述的电子芯片的测试系统，其特征在于，所述控制器用于在所述存储模块存储有多个子图像时，从所述多个子图像中选择一个子图像作为所述待测芯片的测试图像的子图像，其中，所述多个子图像为多个测试图像的子图像，

所述多个子图像数据量的总和小于所述存储模块的存储容量。

5.一种电子芯片的测试方法，其特征在于，包括：

对测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值，其中，所述测试图像为用于测试待测芯片的图像；以及

将所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至所述待测芯片，其中，所述待测芯片按照所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原所述测试图像，并利用所述测试图像进行测试；

将所述测试图像的像素点的灰度值发送至所述待测芯片包括：

获取所述测试图像的像素点与灰度值的对应关系；以及

按照对应关系将所述测试图像的像素点的灰度值发送至所述待测芯片。

6.根据权利要求5所述的电子芯片的测试方法，其特征在于，

对测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像包括：将所述测试图像划分为N个相同的子图像；以及存储所述N个相同的子图像中的一个子图像，

将所述测试图像的子图像发送至所述待测芯片包括：将所述测试图像的子图像向所述待测芯片发送N次。

7.根据权利要求6所述的电子芯片的测试方法，其特征在于，存储所述N个相同的子图像中的一个子图像包括：

存储所述子图像的像素值；以及

存储所述子图像中每个像素点的灰度值。

8.一种电子芯片的测试装置，其特征在于，包括：

预处理模块，用于对测试图像进行预处理，得到所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值，其中，所述测试图像为用于测试待测芯片的图像；以及

发送模块，用于将所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至所述待测芯片，其中，所述待测芯片按照所述测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原所述测试图像，并利用所述测试图像进行测试；

所述发送模块包括：

获取模块，用于获取所述测试图像的像素点与灰度值的对应关系；以及

第二发送子模块，用于按照对应关系将所述测试图像的像素点的灰度值发送至所述待测芯片。