[发明专利]一种特性阻抗校准系统及测试方法有效
| 申请号： | 201510390997.0 | 申请日： | 2015-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN104991124B | 公开（公告）日： | 2018-03-02 |
| 发明（设计）人： | 赵海兰 | 申请（专利权）人： | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201616 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种匹配阻抗校准系统，包括测试夹具、射频信号源以及分析处理单元；测试夹具包括一匹配调试电路；匹配调试电路包括一与射频头连接的输入端口Port‑A和一与分析处理单元连接的输出端口Port‑B；输入端口Port‑A与输出端口Port‑B之间形成第一π型电路，用于对射频头的负载端的阻抗进行调谐以使得射频头的负载端的阻抗与设定阻抗值相匹配；匹配调试电路还包括输入端口Port‑C，输入端口Port‑C通过待测射频线与射频信号源相连；输出端口Port‑B与输入端口Port‑C之间形成第二π型电路，用于对待测射频线的阻抗进行调谐以使得射频线的阻抗与设定阻抗值相匹配。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 特性 阻抗 校准 系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种匹配阻抗校准系统，包括测试夹具、射频信号源以及分析处理单元，所述测试夹具包括用于固定待测主板的承载结构以及用于与所述待测主板电性连接的射频头,所述射频头与射频信号源相连，其特征在于，所述测试夹具包括一匹配调试电路；所述匹配调试电路包括一与所述射频头连接的输入端口Port‑A和一与所述分析处理单元连接的输出端口Port‑B；所述输入端口Port‑A与所述输出端口Port‑B之间形成第一π型电路，用于对所述射频头的负载阻抗值进行调谐以使得所述射频头的负载阻抗值与设定阻抗值相匹配；所述匹配调试电路还包括输入端口Port‑C，所述输入端口Port‑C通过待测射频线与所述射频信号源相连；所述输出端口Port‑B与所述输入端口Port‑C之间形成第二π型电路，用于对所述待测射频线的阻抗值进行调谐以使得所述待测射频线的阻抗值与设定阻抗值相匹配；所述射频信号源与所述分析处理单元采用矢量网络分析仪；所述分析处理单元用于显示所述射频头的负载阻抗值或所述待测射频线的阻抗值在史密斯圆图中的位置；以及，根据所述位置调校所述第一π型电路或所述第二π型电路，使得所述射频头的负载阻抗值或所述待测射频线的阻抗值为设定阻抗值。
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