[发明专利]一种聚酰亚胺涂层的返工方法有效
| 申请号: | 201510309037.7 | 申请日: | 2015-06-07 |
| 公开(公告)号: | CN105047531B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
| 发明(设计)人: | 黄冲;李志国;徐杰;凌松;戴敏洁 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/033;H01L21/48 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 一种聚酰亚胺涂层的返工方法,包括:步骤S1:对通过第一掩模板所制备的具有第一关键尺寸之焊盘开口表面的聚酰亚胺涂层进行剥离;步骤S2:对已剥离聚酰亚胺涂层之晶圆进行清洗;步骤S3:在晶圆表面涂布聚酰亚胺材料;步骤S4:在聚酰亚胺材料上涂布光刻胶,并以第二掩模板进行曝光和显影,且通过第二掩模板所制备的焊盘开口之第二关键尺寸大于通过第一掩模板所制备的焊盘开口之第一关键尺寸。本发明聚酰亚胺涂层的返工方法不仅将焊盘开口的关键尺寸进行放大,增加工艺窗口,有效的解决了二次显影导致的漂移叠差,而且避免了焊盘开口处聚酰亚胺涂层残留,提高产品良率。 | ||
| 搜索关键词: | 聚酰亚胺涂层 焊盘开口 掩模板 返工 制备 聚酰亚胺材料 显影 剥离 漂移 产品良率 工艺窗口 晶圆表面 光刻胶 晶圆 清洗 残留 放大 曝光 | ||
【主权项】:
1.一种聚酰亚胺涂层的返工方法,其特征在于,所述聚酰亚胺涂层的返工方法,包括:执行步骤S1:制备焊盘,所述焊盘的制备方法包括:执行步骤S11:在已形成半导体器件的其他构件之晶圆上形成金属焊垫;执行步骤S12:在所述金属焊垫上设置焊垫氧化物层和聚酰亚胺涂层;执行步骤S13:对所述焊垫氧化物层和所述聚酰亚胺涂层通过第一掩模板制备具有第一关键尺寸之焊盘开口,且所述聚酰亚胺涂层与所述焊垫氧化物层具有漂移叠差;并对所述聚酰亚胺涂层进行剥离;执行步骤S2:对已剥离聚酰亚胺涂层之晶圆进行清洗;执行步骤S3:在晶圆表面涂布聚酰亚胺材料;执行步骤S4:在聚酰亚胺材料上涂布光刻胶,并以第二掩模板进行曝光和显影,且通过所述第二掩模板所制备的焊盘开口之第二关键尺寸大于通过所述第一掩模板所制备的焊盘开口之第一关键尺寸,以解决所述聚酰亚胺涂层与所述焊垫氧化物层之间的漂移叠差;执行步骤S5:固化晶圆表面之聚酰亚胺涂层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510309037.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型智能注塑机
- 下一篇:一种新型多功能注塑机
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





