[发明专利]半导体结构的制造方法有效
| 申请号: | 201510081247.5 | 申请日: | 2015-02-15 |
| 公开(公告)号: | CN105990103B | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
| 发明(设计)人: | 陈建霖;邱达乾 | 申请(专利权)人: | 力晶科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/3065 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
| 地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明公开一种半导体结构的制造方法,包括以下步骤。提供包括多数个区块的基底。各区块分别包括交替排列的第一区以及第二区。在基底上形成多数个复合层。图案化最顶层的复合层,以在基底的第一区上形成多数个复合块。依序对区块上的复合层以及复合块进行移除制作工艺,以在基底上形成阶梯结构。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构的制造方法,包括:提供一基底,该基底包括多数个区块,各该些区块分别包括一第一区与一第二区,该些第一区以及该些第二区交替排列;在该基底上形成多数个复合层;图案化最顶层的该复合层,以在该基底的该些第一区上形成多数个复合块;依序对该些区块上的该些复合层以及该些复合块进行一移除制作工艺,以在该基底上形成一阶梯结构,其中依序对该些区块上的该些复合层以及该些复合块进行该移除制作工艺的方法包括:在该基底上形成一光致抗蚀剂层,该光致抗蚀剂层覆盖一个区块上的该些复合层以及该复合块;以及移除未被该光致抗蚀剂层覆盖的该些复合层以及该些复合块,以在该基底上形成该阶梯结构;重复进行该移除制作工艺,其中每重复一次该移除制作工艺,该光致抗蚀剂层多覆盖一个区块上的该些复合层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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