[发明专利]纳米尺度的微细图形加工方法在审
申请号: | 201510061917.7 | 申请日: | 2015-02-05 |
公开(公告)号: | CN104597724A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 王冠亚;张凯;谢常青;李新涛;李友;张卫红;张建宏;邵鑫;路程;牛洁斌;张培文;刘明;龙世兵 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种纳米尺度的微细图形加工方法,包括步骤:将需要曝光的图形分为1微米以上图形和1微米以下图形两个部分;在衬底的材料层上形成第一光刻胶;使用激光直写图形发生器,将1微米以上图形曝光至第一光刻胶,显影形成第一光刻胶图形;以第一光刻胶图形为掩模,刻蚀材料层形成1微米以上的线条;在衬底的材料层上形成第二光刻胶;使用电子束曝光机,将1微米以下图形曝光至第二光刻胶,显影成第二光刻胶图形;以第二光刻胶图形为掩模,刻蚀材料层形成1微米以下的线条。依照本发明的纳米尺度的微细图形加工方法,针对1微米以上图形和1微米以下图形分别执行激光直写曝光和电子束曝光,可以快速、低成本的加工纳米尺度的微细图形。 | ||
搜索关键词: | 纳米 尺度 微细 图形 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种纳米尺度的微细图形加工方法,包括步骤:将需要曝光的图形分为1微米以上图形和1微米以下图形两个部分;在衬底的材料层上形成第一光刻胶;使用激光直写图形发生器,将1微米以上图形曝光至第一光刻胶,显影形成第一光刻胶图形;以第一光刻胶图形为掩模,刻蚀材料层形成1微米以上的线条;在衬底的材料层上形成第二光刻胶;使用电子束曝光机,将1微米以下图形曝光至第二光刻胶,显影成第二光刻胶图形;以第二光刻胶图形为掩模,刻蚀材料层形成1微米以下的线条。
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