[发明专利]一种MEMS器件制备方法有效

专利信息
申请号: 201510021534.7 申请日: 2015-01-15
公开(公告)号: CN105848075B 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 何昭文 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H04R19/04 分类号: H04R19/04;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 11336 北京市磐华律师事务所 代理人: 高伟;冯永贞
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种MEMS器件及其制备方法、电子装置。所述器件包括半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底的上方,其中所述背板中设置有若干相间隔的穿孔;振膜,位于所述背板上方;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有若干相间隔的背腔。本发明采用多个背腔设计,背腔之间的间隔作为背板的支撑,这种设置具有以下优点:由于背板受到支撑,其刚度提高,可以减小背板的厚度以减小空气阻尼,MEMS麦克风的信噪比和灵敏度都得到提高;本设计没有增加工艺步骤和工艺难度,只需要更改背腔刻蚀的光照即可;背腔的设计可以灵活更改以满足MEMS麦克风的性能要求。
搜索关键词: 一种 mems 器件 及其 制备 方法 电子 装置
【主权项】:
1.一种MEMS器件的制备方法,包括:/n步骤S1:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有背板,其中所述背板中形成有若干相间隔的穿孔;/n步骤S2:沉积牺牲材料层,以覆盖所述背板;/n步骤S3:在所述牺牲材料层上形成振膜;/n步骤S4:在所述振膜上接合操作晶圆;/n步骤S5:反转所述步骤S4中得到元件,并图案化所述半导体衬底,以形成若干相间隔的露出所述背板的背腔,以增加所述背板的刚度,并去除所述振膜与所述背板之间的所述牺牲材料层,以形成空腔;/n步骤S6:反转步骤S5中得到的元件,去除所述操作晶圆。/n
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