[发明专利]功率半导体装置无效

专利信息
申请号: 201480051660.0 申请日: 2014-09-22
公开(公告)号: CN105531826A 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: F.鲍尔 申请(专利权)人: ABB技术有限公司
主分类号: H01L29/745 分类号: H01L29/745;H01L29/749;H01L29/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 叶晓勇;王传道
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 提供一种功率半导体装置(1),其按照下列顺序包括:- 集电极电极(1),- 第二导电类型的集电极层(2),- 第一导电类型的漂移层(3),- 第二导电类型的基极层(4),- 具有开口(82)的第一绝缘层(8),- 第一导电类型的发射极层(5),其中发射极层(5)与基极层(4)接触并且至少通过第一绝缘层(8)或基极层(4)其中之一与漂移层(3)分开,- 第二导电类型的主体层(6),其对发射极层(5)侧向布置,并且通过第一绝缘层(8)和发射极层(5)与基极层(4)分开,- 第一导电类型的源区(7),其通过主体层(6)与发射极层(5)分开,- 由源区(7)所接触发射极电极(15)。该装置还包括:第二导电类型的第一层(65),与发射极电极(15)接触并且与基极层(4)分开;以及第一导电类型的第二层(55),布置在第一层(65)与基极层(4)之间,并且与发射极层(5)和源区(7)分开。平面MIS栅电极(9)从发射极电极(15)侧向布置,对应MIS沟道可在源区(7)、主体层(6)和发射极层(5)之间形成。晶闸管电流通路(120)通过开口(82)在发射极层(5)、基极层(4)和漂移层(3)之间延伸,以及关断MIS沟道(110)可在平面MIS栅电极(9)下面从第一层(65)、第二层(55)、基极层(4)到漂移层(3)形成。
搜索关键词: 功率 半导体 装置
【主权项】:
一种功率半导体装置,按照下列顺序包括:‑ 集电极电极(1),‑ 第二导电类型的集电极层(2),‑ 第一导电类型的漂移层(3),‑ 所述第二导电类型的基极层(4),‑ 具有开口(82)的第一绝缘层(8),‑ 所述第一导电类型的发射极层(5),其中所述发射极层(5)接触到所述基极层(4),并且其中所述发射极层(5)至少通过所述第一绝缘层(8)或所述基极层(4)其中之一与所述漂移层(3)分开,‑ 所述第二导电类型的主体层(6),其对所述发射极层(5)侧向布置,并且所述主体层(6)通过所述第一绝缘层(8)和所述发射极层(5)与所述基极层(4)分开,‑ 所述第一导电类型的源区(7),其通过所述主体层(6)与所述发射极层(5)分开,‑ 发射极电极(15),其由所述源区(7)接触,其中所述装置还包括所述第二导电类型的第一层(65),其接触到所述发射极电极(15)并且与所述基极层(4)分开,以及所述第一导电类型的第二层(55),其布置在所述第一层(65)与所述基极层(4)之间,并且其与所述发射极层(5)和所述源区(7)分开,其中平面栅电极(9)从所述发射极电极(15)侧向布置,所述平面栅电极(9)包括导电栅极层(92)和第二绝缘层(94),其将所述栅极层(92)与所述第一或第二导电类型的任何层并且与所述发射极电极(15)绝缘,其中所述MIS沟道(100)可在所述平面栅电极(9)下面在所述源区(7)、所述主体层(6)和所述发射极层(5)之间形成,其中第一晶闸管电流通路(120)可通过所述开口(82)在所述发射极层(5)、所述基极层(4)和所述漂移层(3)之间形成,以及其中关断沟道(110)可在所述平面栅电极(9)下面从所述第一层(65)、所述第二层(55)、所述基极层(4)到所述漂移层(3)形成。
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