[发明专利]用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法有效
| 申请号： | 201480049476.2 | 申请日： | 2014-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN105531214B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | J-P·赫尔曼;M·M·赫尔曼;W·朔恩 | 申请（专利权）人： | KHS有限责任公司 |
| 主分类号： | B65H26/06 | 分类号： | B65H26/06;B65H26/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李隆涛 |
| 地址： | 德国多*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于标记片材中的材料缺陷的方法。为了提供能够被用于特别准确地、可靠地和永久地识别片材中的材料缺陷，设置成通过缺陷传感器来感测移动的片材中的材料缺陷，并且由第一标记传感器(4a)感测所感测的材料缺陷的区域内的表面结构特征，并且确定并存储体现表面结构特征的第一表面结构数据记录。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 跟踪 中的 缺陷 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于对片材(2)中的材料缺陷进行标记的方法，包括以下步骤：通过缺陷传感器(3)来检测移动的片材(2)中的材料缺陷；通过第一标记传感器(4a)来检测所感测的材料缺陷的区域内的至少一个表面结构特征，并且制备体现所述表面结构特征的第一结构数据记录；存储所述结构数据记录。
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