[发明专利]用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法

权利要求书

1.一种用于对片材(2)中的材料缺陷进行标记的方法，包括以下步骤：

通过缺陷传感器(3)来检测移动的片材(2)中的材料缺陷；

通过第一标记传感器(4a)来检测所感测的材料缺陷的区域内的至少一个表面结构特征，并且制备体现所述表面结构特征的第一结构数据记录，其中，所述第一标记传感器在所述材料缺陷被检测到之后被激活；

存储所述结构数据记录，在存储所述结构数据记录之后

所述表面结构特征由在所述第一标记传感器(4a)下游的第二标记传感器(4b)感测，并且产生体现所述表面结构特征的第二结构数据记录；

通过所存储的第一结构数据记录与所产生的第二结构数据记录的对比来识别所述片材(2)上的缺陷位置；以及

在各所述结构数据记录一致的情况下，启动一处理单元(6)，所述处理单元处理所述材料缺陷的区域内的片材(2)；

其特征在于，在所述第一标记传感器(4a)与所述第二标记传感器(4b)之间，入口传感器(9)在第二处理单元(8)改变所述片材(2)的表面结构之前感测所述片材(2)的表面结构特征；

输入数据记录由所感测的表面结构特征产生，并且与第一结构数据记录对比；以及

在第一结构数据记录与输入数据记录一致的情况下，出口传感器(10)在考虑到所述片材(2)经过所述第二处理单元(8)的运行经过速度的情况下感测来自第二处理工位的片材(2)的表面结构特征；以及

输出数据记录被产生并被存储。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在检测所述表面结构特征之后，所述片材被卷起、被运输和/或被存储。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述第一标记传感器(4a)与所述第二标记传感器(4b)之间，

至少一个第三标记传感器感测所述表面结构特征，并且第二结构数据记录产生；

至少第一、第二、和/或第三结构数据记录彼此相互被对比；以及

各结构数据记录之间的、与表面结构特征改变相对应的改变被确定；以及

如果需要的话，所确定的改变在识别缺陷位置时被考虑。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于

通过所产生的输出数据记录与所确定的第二结构数据记录的对比来识别所述片材(2)上的缺陷位置；和/或

所述输出数据记录与至少所述第一结构数据记录被对比并且改变被获知。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

在考虑带运行速度的情况下执行材料缺陷的位置的粗略检测；和/或

只要在考虑所述粗略检测的情况下由所述第一标记传感器(4a)所感测的表面结构进入到对应的传感器的检测范围中的输入可用，则由所述标记传感器(4a、4b)和/或入口/出口传感器(9、10)进行表面结构特征的检测。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所存储的结构数据、输入数据、和/或输出数据在所述片材区段的处理之后从存储或内存单元被删除。

7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一标记传感器(4a)和/或所述第二标记传感器(4b)感测所述片材(2)的其中存在材料缺陷的一个区段的表面结构特征。

8.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，材料缺陷和/或表面结构特征被光学地感测。

9.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，粗糙度、透明度、颜色、和/或激光投射到片材(2)表面上的散射模型被作为表面结构特征检测。

10.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，片材(2)包括金属、玻璃、塑料、和/或含有纤维素的基板。

11.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，该区段自材料缺陷的位置开始具有+/-75cm的长度。