[发明专利]用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法有效
申请号: | 201480049476.2 | 申请日: | 2014-08-01 |
公开(公告)号: | CN105531214B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | J-P·赫尔曼;M·M·赫尔曼;W·朔恩 | 申请(专利权)人: | KHS有限责任公司 |
主分类号: | B65H26/06 | 分类号: | B65H26/06;B65H26/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李隆涛 |
地址: | 德国多*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 跟踪 中的 缺陷 设备 方法 | ||
本发明涉及用于标记片材中的材料缺陷的方法。为了提供能够被用于特别准确地、可靠地和永久地识别片材中的材料缺陷,设置成通过缺陷传感器来感测移动的片材中的材料缺陷,并且由第一标记传感器(4a)感测所感测的材料缺陷的区域内的表面结构特征,并且确定并存储体现表面结构特征的第一表面结构数据记录。
技术领域
本发明涉及用于标记片材中的材料缺陷的方法和设备。
背景技术
在诸如金属板材、纸张或者还有塑料膜的片材处理过程中,片材被展开、被引导经过相应的处理工位、并然后被再次卷起,例如被分段。
在引导经过处理工位的过程中,片材被检查是否有材料缺陷。为此目的,目前例如通常在片材上进行光学检查并且为了识别标记出缺陷点。为了识别,例如,颜色标记可以被施加或者打标被引入到片材中。
材料缺陷的处理通常是在经过处理工位之后进行,或者如果需要的话是在一个单独的工段内进行,在该单独的工段中,片材被再次展开。无论怎样,片材在缺陷的检测与缺陷的处理之间运行经过设备的多个工位,例如偏向卷绕。由此,已经被施加的、表明材料缺陷的标记经常被改变或被消除,从而无法准确地确定材料缺陷的位置。
为了能够在标识标记有缺陷的情况下仍定位材料缺陷,作为替代地可以确定片材经过各处理工位的运行经过速度,从而借助于计算来实现材料缺陷的位置确定。
然而,此类计算系统是特别不精确的,并且特别由于例如在处理的过程中片材拉伸或收缩,此类计算系统是特别不可靠的,从而无法实现材料缺陷的可靠的定位,或者为了处理材料缺陷特别大量的片材区段必须被处理。
发明内容
本发明的目的因此在于提供一种方法和设备,由此,片材内的材料缺陷能够被特别精确地、可靠地以及永久地为了识别而被标记。
本发明通过具有说明书的特征的用于标记片材中的材料缺陷的方法以及具有说明书的特征的设备来实现该目的。本发明的有利的其它实施例在权利要求书中体现。
用于对片材中的材料缺陷进行标记的本发明的方法至少包括以下步骤:
通过缺陷传感器检测移动的片材中的材料缺陷;
通过第一标记传感器来检测所检测的材料缺陷的区域中的表面结构特征,并且确定体现表面结构特征的第一结构数据记录;
将结构数据记录存储在存储装置内。
根据本发明的方法和设备是基于这样的认知,一个物体的每个表面表现出各自独特的结构特征,这能够被用于一个物体的识别。即使对于几乎相同的物体,表面结构也是不同的,从而可以实现相应物体的明确的识别。表面区段中所检测的结构特征因此体现了用于充分识认的明确的“指纹”。
关于材料缺陷的区域内的表面的这种个别的结构特征的检测,将精确地确定材料缺陷位于片材中的位置。为了在随后的时间点再次发现材料缺陷,片材可以借助于发现所检测的表面结构特征来被研究。在表面结构特征已经被再次发现之后,材料缺陷的位置将因此也被发现。由此,可以取消之前传统采用的、被引到片材上或中的识别标记。
因为本发明的方法也适用于在不停止或减速片材的前提下检测片材中的多个材料缺陷和表面结构特征,所以本发明的方法附加地能够以特别经济的方式被执行。
在这种情况中,为了确定表面结构特征而将被检查的片材区段可以独立于材料缺陷的区域,即,它不必是将被检查的材料缺陷区域中的一个区段,但是至少应当位于直接附近(紧邻)。表面结构特征被检测的片材的区域例如可以位于材料缺陷的与片材运行方向呈横向的平面内。将被检查的区域还可以具体地关于片材的基准点、例如外边缘被限定,从而例如在距外边缘20cm的距离间隔处并在材料缺陷的高度处进行表面结构特征的检测。
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