[发明专利]针对皮肤特性的测量设备和非侵入式处理设备在审
| 申请号： | 201480036135.1 | 申请日： | 2014-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN105338888A | 公开（公告）日： | 2016-02-17 |
| 发明（设计）人： | J·A·帕勒洛;M·朱纳;B·瓦尔格斯;M·R·霍顿 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B18/20 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本申请提供了用于使用激光进行皮肤特性测量的非侵入式测量设备(30)和方法，该设备包括探测模块(70)和成像模块(50)。本申请还提供了包括该测量设备/方法的非侵入式处理设备(130,230,330,430)和方法。探测模块(70)提供沿探测轴线(71)进入皮肤的探测光束(82)。探测光束(82)与任何处理辐射束(22)分离，从而探测光束(82)可以针对测量进行优化。提供了更为可靠的皮肤测量系统，因为其测量在探测区(95)内的沿探测轴线(71)的多个位置。测量设备和方法还可以包括处理模块(110)或处理步骤。所测量的皮肤参数然后可以被直接用来控制处理参数。这使得提供了不仅有效且递送可再现结果的皮肤处理设备(10)。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 皮肤 特性 测量 设备 侵入 处理 | ||
【主权项】：
一种用于使用激光测量皮肤特性的非侵入式测量设备(30)，所述设备包括探测模块(70)和成像模块(50)，其中：‑所述探测模块(70)包括第一光学系统(87)和用于生成探测光束(82)的激光源(80)，所述探测模块(70)被配置并设置为使得在使用中所述探测光束(82)沿探测轴线(71)离开所述设备(30)并且撞击在待被处理的所述皮肤的外表面上；所述第一光学系统(87)被配置并设置为在使用中将所述探测光束(82)导引至所述皮肤内的探测区(95)；‑所述成像模块(50)包括第二光学系统(67)和光学检测器阵列(60)，所述光学检测器阵列(60)沿包括于所述第二光学系统(67)的像平面中的检测器轴线(61)进行部署，所述第二光学系统(67)被配置并设置为在使用中在所述光学检测器阵列(60)中所包括的多个光检测元件(65)上分别形成所述探测区(95)内的沿所述探测轴线(71)进行分布的多个探测位置的图像，其中所述第二光学系统(67)具有与所述探测轴线(71)相交的成像光学轴线(51)。
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