[发明专利]针对皮肤特性的测量设备和非侵入式处理设备

权利要求书

1.一种用于使用激光测量皮肤特性的非侵入式测量设备(30)，所述设备包括探测模块(70)和成像模块(50)，其中：

-所述探测模块(70)包括第一光学系统(87)和用于生成探测光束(82)的激光源(80)，所述探测模块(70)被配置并设置为使得在使用中所述探测光束(82)沿探测轴线(71)离开所述设备(30)并且撞击在待被处理的所述皮肤的外表面上；所述第一光学系统(87)被配置并设置为在使用中将所述探测光束(82)导引至所述皮肤内的探测区(95)；

-所述成像模块(50)包括第二光学系统(67)和光学检测器阵列(60)，所述光学检测器阵列(60)沿包括于所述第二光学系统(67)的像平面中的检测器轴线(61)进行部署，所述第二光学系统(67)被配置并设置为在使用中在所述光学检测器阵列(60)中所包括的多个光检测元件(65)上分别形成所述探测区(95)内的沿所述探测轴线(71)进行分布的多个探测位置的图像，其中所述第二光学系统(67)具有与所述探测轴线(71)相交的成像光学轴线(51)。

2.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述检测器轴线(61)被包括在一平面中，所述平面包括所述探测轴线(71)和所述成像光学轴线(51)。

3.根据权利要求1所述的测量设备，其中由所述探测轴线(71)和所述成像光学轴线(51)所夹的角度(111)处于20至90度的范围之内。

4.根据权利要求1所述的测量设备，其中在所述测量设备的操作期间，由所述探测轴线(71)和所述皮肤外表面(11)所夹的角度(112)处于45至90度的范围之内。

5.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述检测器轴线(61)和所述探测轴线(71)互相平行，或者根据移轴景深光学原理对由所述检测器轴线(61)和所述成像光学轴线(51)所夹的角度进行校正。

6.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述光学检测器阵列(60)包括沿所述检测器轴线(61)延伸的Y个光检测元件(65)乘以沿垂直于所述检测器轴线(61)的另一轴线延伸的X个光检测元件(65)的矩阵，Y与X之比大于5比1。

7.一种用于使用电磁处理辐射进行皮肤处理的非侵入式处理设备(130)，所述设备包括根据权利要求1至6中任一项所述的测量设备，所述处理设备进一步包括处理模块(110)，其中：

-所述处理模块(110)包括用于提供处理辐射束(22)的处理辐射源(20)以及束成形和导引组件(137)，所述处理模块(110)被配置并设置为使得在使用中所述处理辐射束(22)沿处理轴线(21)离开所述设备(130)并且撞击在待被处理的所述皮肤的外表面上；所述束成形和导引组件(137)被配置并设置为在使用中将所述处理辐射束(22)导引至部署在所述探测区(95)之内的处理位置(90)。

8.根据权利要求7所述的处理设备(130)，其中所述处理辐射为激光，并且所述处理模块(110)被配置并设置为使得所述处理轴线(21)与所述探测轴线(71)相符。

9.一种用于使用生成激光的设备(30)对皮肤特性进行非侵入式测量的方法，所述设备包括探测模块(70)和成像模块(50)，

所述方法包括：

-提供探测模块(70)，其包括第一光学系统(87)和用于生成探测光束(82)的激光源(80)；

-将所述探测模块(70)配置并设置为使得在使用中所述探测光束(82)沿探测轴线(71)离开所述设备(30)并且撞击在待被处理的所述皮肤的外表面上；

-将所述第一光学系统(87)配置并设置为在使用中将所述探测光束(82)导引至所述皮肤内的探测区(95)；

-提供成像模块(50)，其包括第二光学系统(67)和光学检测器阵列(60)，所述光学检测器阵列(60)沿包括于所述第二光学系统(67)的像平面中的检测器轴线(61)进行部署；

-将所述第二光学系统(67)配置并设置为在使用中在所述光学检测器阵列(60)中所包括的多个光检测元件(65)上分别形成所述探测区(95)内的沿所述探测轴线(71)进行分布的多个探测位置的图像，其中所述第二光学系统(67)具有与所述探测轴线(71)相交的成像光学轴线(51)。