[发明专利]使用选择性成像测量物体的方法和设备有效
| 申请号： | 201480017383.1 | 申请日： | 2014-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN105051487B | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | J·J·奥黑尔;S·达鲁泽 | 申请（专利权）人： | 海克斯康测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/04 | 分类号： | G01B15/04;G01N23/04;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王小东 |
| 地址： | 美国罗*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测量物体的方法将所述物体与该物体的模型配准，并且确定所述物体的至少一个特征来进行扫描。接下来，该方法控制X射线扫描装置以不用扫描整个所述物体，以便产生代表至少一个被扫描部分的可视数据。5所述至少一个被扫描部分具有所述至少一个特征，同时根据所述物体与所述模型的配准来控制所述X射线扫描装置。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 选择性 成像 测量 物体 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种测量物体的方法，该方法包括：将所述物体与该物体的模型配准，该物体具有多个特征；确定所述物体的至少一个特征来进行扫描；以及控制X射线扫描装置以不用扫描整个所述物体，以便产生代表至少一个被扫描部分的可视数据，所述至少一个被扫描部分包括所述至少一个特征，根据所述物体与所述模型的配准来控制所述X射线扫描装置。
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