[发明专利]使用选择性成像测量物体的方法和设备

权利要求书

1.一种测量物体的方法，该方法包括：

将所述物体与该物体的模型配准，该物体具有多个特征；

自动地确定所述物体的至少一个特征在所述物体内位于何处来进行扫描；

计算用于X射线扫描装置扫描所述物体的有效轨迹，其中，所述有效轨迹将捕获到所述至少一个特征同时扫描所述物体的最小量的不必要部分，根据所述物体与所述模型的配准来计算所述有效轨迹；

控制所述X射线扫描装置以沿着所述有效轨迹不用扫描整个所述物体，以便产生代表至少一个被扫描部分的图像数据，所述至少一个被扫描部分包括所述至少一个特征；

从所述图像数据对被配准的所述物体的所述至少一个被扫描部分进行体积重构，重构步骤产生体积重构体；以及

从所述体积重构体对所述至少一个特征进行几何测量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，确定步骤包括确定所述物体的多个特征来进行扫描，控制步骤包括控制所述X射线扫描装置以不用扫描整个所述物体，以便产生代表至少一个被扫描部分的图像数据，所述至少一个被扫描部分包括所述多个特征。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，控制步骤包括控制所述X射线扫描装置以产生代表多个被扫描部分的可视标记。

4.根据权利要求1所述的方法，该方法进一步包括将所述物体加载到包括所述X射线扫描装置的计算机断层扫描机内。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述模型包括三维计算机辅助设计模型。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个被扫描部分包括所述至少一个特征的至少一部分。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个特征包括所述物体的内部特征。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个特征包括所述物体的外部特征。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述X射线扫描装置包括在扫描所述物体时围绕所述物体移动小于360度的源。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述物体定位在不阻挡所述X射线扫描装置的固定件上。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述固定件既能够在平移方向上又能够在旋转方向上移动。

12.根据权利要求1所述的方法，其中，控制步骤包括控制X射线扫描装置以扫描所述物体的多个平面，所述多个平面中的至少两个平面相交。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，所述X射线扫描装置包括线性检测器。

14.根据权利要求1所述的方法，其中，所述X射线扫描装置包括平面检测器。