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- [实用新型]一种塑料薄膜厚度检测装置-CN202320792419.X有效
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叶必初
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浙江鼎新新材料有限公司
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2023-04-01
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2023-10-10
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G01B15/02
- 本实用新型涉及检测装置技术领域，具体涉及一种塑料薄膜厚度检测装置，包括检测台，所述检测台的两侧分别安装第一固定板和第二固定板，所述第一固定板和第二固定板之间设置有上检测板和下检测板，所述下检测板位于上检测板的正下方,所述上检测板的底部安装有多组射线接收器，所述下检测板的顶部安装有射线发射器，上检测板和下检测板的两端均连接有第一螺纹套和第一移动块，所述上检测板和下检测板的一侧安装有第一辊筒和第二辊筒,所述第二辊筒位于第一辊筒正下方，所述第一辊筒和第二辊筒的两端均转动连接有第二螺纹套和第二移动块，本实用新型通过设计能够提高一种塑料薄膜厚度检测装置使用时的方便性以及实用性。
- 一种塑料薄膜厚度检测装置
- [发明专利]一种极片涂布边缘削薄及测量方法-CN202310729674.4在审
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朱鹏程;彭智;曹国平
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常州锐奇精密测量技术有限公司
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2023-06-19
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2023-09-29
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G01B15/02
- 本发明涉及极片测厚技术领域，具体公开了一种极片涂布边缘削薄及测量方法，所述方法包括：S1、设置X射线管、放射孔和准直板，且准直板上开设有准直孔；S2、规定准直孔为长方形孔，且设定准直孔的尺寸宽度范围为：0.5‑3mm和长度范围为：5‑20mm；S3、通过准直孔遮挡将X射线管内的X射线光斑转变为长方形光斑；S4、根据X射线测量原理采样长方形光斑的面密度，根据面密度转换厚度原理获得涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点；S5、确定涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点并通过边缘削薄算法获得削薄厚度值和长度值；本发明保证测量过程中缩小数据采集范围，提高空间分辨率；精确测量边缘削薄范围同时节约测量成本。
- 一种极片涂布边缘测量方法
- [发明专利]厚度测量方法及装置-CN202210260513.0有效
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王莹飞;刘军;吴正利;魏强民
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长江存储科技有限责任公司
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2022-03-16
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2023-09-12
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G01B15/02
- 公开了一种厚度测量方法，包括：获取待测样品，所述待测样品包括叠层结构以及贯穿所述叠层结构的沟道柱，所述叠层结构包括交替堆叠的多个层间绝缘层和多个虚拟栅极层，其中，所述虚拟栅极层包括依次形成的高K介质层、氮化钛层和介质层；对所述待测样品进行减薄处理得到待测样本；根据扫描透射电子显微镜的优化参数采集所述待测样本的扫描透射电子暗场图像；对所述扫描透射电子暗场图像进行自动厚度测量，得到所述待测样本中所述氮化钛层的厚度。本发明实施例提供的厚度测量方法，将原来的金属层填充替换成介质层填充从而形成虚拟栅极层，使得在后续的扫描透射电子暗场图像上可以清晰地识别出氮化钛层的边界。
- 厚度测量方法装置
- [实用新型]测厚仪系统-CN202322125012.4有效
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任宏志;孙仲玉
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赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
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2023-08-09
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2023-09-12
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G01B15/02
- 本实用新型涉及一种测厚仪系统，该测厚仪系统包括仪器框架，该仪器框架包括彼此间隔开的第一支承元件和第二支承元件；探测元件，该探测元件安置于第一支承元件与第二支承元件之间，并且在其一端处安装至第一支承元件；以及限位元件，限位元件布置在探测元件与第二支承元件之间，该限位元件在其面向探测元件的表面上形成有第一凹陷部，在探测元件的另一端处，探测元件的至少一部分接纳于第一凹陷部内，以限制探测元件的位移。这种测厚仪系统能够在运输期间限制探测元件的位移，并降低由于震动导致损坏的风险。
- 测厚仪系统
- [实用新型]种植层厚度测量装置-CN202320927927.4有效
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赵竹君;齐乐;李勇
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山东省城镇规划建筑设计院有限公司
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2023-04-23
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2023-08-29
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G01B15/02
- 本实用新型涉及土壤探测技术领域，具体是种植层厚度测量装置，所述支撑板的上表面固定有显示器机体，所述支撑板的底部固定有连接筒，所述连接筒的底部固定有套筒，所述套筒的内部固定有测量钎，所述显示器机体与测量钎之间安装有升降机构，所述显示器机体的一侧固定有雷达测距传感器于支撑板上表面，所述支撑板的两侧转动连接有连接杆，所述连接杆的底部前后两端均转动连接有固定块。本实用新型通过升降机构可以对测量钎进行升降，通过测量钎对种植层厚度进行测量，相较于通过测量钎无法下降的方式，也可可通过测量钎内部的氮元素测定仪进行判定种植层的厚度，可以获得更加准确的厚度，通过雷达测距传感器可以精确得到测量的数据。
- 种植厚度测量装置
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