[发明专利]一种可控阵列纳米线及其场效应晶体管的制备方法在审
申请号: | 201410820866.7 | 申请日: | 2014-12-24 |
公开(公告)号: | CN104485284A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 王新强;王平;沈波;杨学林;郑显通;荣新;盛博文 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 王岩 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种可控阵列纳米线的制备方法及其场效应晶体管的制备方法。本发明通过选择外延生长中生长材料沿不同晶向的生长速率各向异性的材料作为衬底,从而实现纳米线的生长;通过设计图形化衬底的排布和直径,可精确调控阵列纳米线的周期、数量、长度和直径,满足不同的FET需求;富VI族或富V族原子的生长条件达到表面抑制的效果,降低了金属原子在表面的各向同性迁移,有利于纳米线的生长;可控阵列纳米线FET的制备可采用传统的半导体器件制备工艺,工艺简单,可调控性强,成本低廉,能实现批量生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 可控 阵列 纳米 及其 场效应 晶体管 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种可控阵列纳米线的制备方法,用于制备II‑VI族或III‑V族的阵列纳米线,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:1)选取生长材料沿不同晶向的生长速率各向异性的材料作为衬底;2)根据场效应晶体管FET的制备要求,设计图形化衬底的图形,制备图形化衬底;3)对图形化衬底进行预处理,使图形化衬底的表面洁净;4)根据最优先生长晶向的生长速率,确定VI族或V族原子的原子束流;5)根据阵列纳米线的周期和直径,确定II族或III族原子的原子束流;6)按照以上确定的条件,在洁净的图形化衬底上生长阵列纳米线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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