[发明专利]硅基高晶体质量InAsSb平面纳米线的生长方法有效

专利信息
申请号: 201410785433.2 申请日: 2015-08-03
公开(公告)号: CN104499054A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 杨涛;杜文娜;杨晓光;王小耶;季祥海;王占国 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C30B29/52 分类号: C30B29/52;C30B29/60;C30B25/02;H01L21/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种硅基高晶体质量InAsSb平面纳米线的生长方法,包括如下步骤:步骤1:将一衬底放入有机溶液中超声清洗;步骤2:将清洗后的衬底用氢氟酸溶液进行腐蚀;步骤3:将腐蚀后的衬底放入MOCVD外延设备的腔室中,将衬底第一次升温后稳定一预定时间;步骤4:将衬底第一次降到设定温度后,第一次通入AsH3气体;步骤5:将衬底第二次升温至纳米线的生长温度稳定一预定时间后,减小AsH3气体的流量,同时通入TMIn和TMSb气体,开始生长InAsSb纳米线;步骤6:生长结束后关掉通入的TMIn气体,将衬底温度第二次降至室温后关掉AsH3和TMSb气体,完成InAsSb纳米线的制备。本发明具有处理工艺简单,成本大大降低;不需要使用外来催化剂,没有污染;也不需要核子纳米线辅助成核,生长步骤简化。
搜索关键词: 硅基高 晶体 质量 inassb 平面 纳米 生长 方法
【主权项】:
一种硅基高晶体质量InAsSb平面纳米线的生长方法,包括如下步骤:步骤1:将一衬底放入有机溶液中超声清洗;步骤2:将清洗后的衬底用氢氟酸溶液进行腐蚀;步骤3:将腐蚀后的衬底放入MOCVD外延设备的腔室中,将衬底第一次升温后稳定一预定时间;步骤4:将衬底第一次降到设定温度后,第一次通入AsH3气体;步骤5:将衬底第二次升温至纳米线的生长温度稳定一预定时间后,减小AsH3气体的流量,同时通入TMIn和TMSb气体,开始生长InAsSb纳米线;步骤6:生长结束后关掉通入的TMIn气体,将衬底温度第二次降至室温后关掉AsH3和TMSb气体,完成InAsSb纳米线的制备。
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