[发明专利]一种多通道SRAM单粒子测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410730074.0 | 申请日： | 2014-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104505125B | 公开（公告）日： | 2018-07-13 |
| 发明（设计）人： | 刘倩茹;赵发展;刘刚;罗家俊;韩郑生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人： | 朱海波 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多通道SRAM单粒子测试装置，包括：测试板和主控板；其中，测试板用于固定、连接待测芯片；主控板用于控制辐照测试系统，并读取、记录待测芯片中的数据。该装置能够同时实现对多个SRAM器件单粒子效应进行测试，获得单粒子效应特征参数，提高对被测器件抗单粒子效应能力预估的准确性；还可实时检测被测器件工作电流的大小，防止闩锁效应的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 单粒子效应 被测器件 测试板 单粒子 多通道 主控板 抗单粒子效应能力 测试方法及装置 读取 预估 测试装置 待测芯片 辐照测试 工作电流 实时检测 特征参数 闩锁效应 芯片 测试 记录 | ||
【主权项】：
1.一种多通道SRAM单粒子测试装置，包括：测试板和主控板；其中，测试板用于固定、连接待测芯片；主控板用于控制辐照测试系统，并读取、记录待测芯片中的数据；所述测试板和主控板沿竖直方向平行放置；并且，所述测试板与所述主控板在沿辐射源照射方向上依次设置。
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