[发明专利]一种多通道SRAM单粒子测试方法及装置

权利要求书

1.一种多通道SRAM单粒子测试装置，包括：测试板和主控板；其中，

测试板用于固定、连接待测芯片；

主控板用于控制辐照测试系统，并读取、记录待测芯片中的数据；

所述测试板和主控板沿竖直方向平行放置；并且，所述测试板与

所述主控板在沿辐射源照射方向上依次设置。

2.根据权利要求1所述的单粒子测试装置，其特征在于，所述主控板包括：

电源模块，用于将输入电源转化为各模块所需要的不同电压；

通信模块，用于接收外部信号；

缓存模块，用于读写测试数据；

主控模块，用于实现控制信号的命令，为各模块提供时序控制；

电平转换模块，用于转换被测芯片接口电平与FPGA接口电平；

第一接口模块，用于连接主控板和测试板。

3.根据权利要求1所述的单粒子测试装置，其特征在于，所述测试板包括第二接口模块和测试夹具；其中，

所述第二接口模块，用于连接主控板和测试板；

所述测试夹具为待测SRAM提供固定。

4.根据权利要求3所述的单粒子测试装置，其特征在于，所述测试夹具的数量为N，其中N为自然数。

5.根据权利要求1所述的单粒子测试装置，其特征在于，所述测试板和控制板上挖有空槽，用于放置数据排线。

6.根据权利要求5所述的单粒子测试装置，其特征在于，所述空槽的数量为N，其中N为0或自然数。

7.一种多通道SRAM单粒子测试方法，包括：

a.根据片选信号和时序，将测试数据写入多片待测芯片中，并读出待测芯片中的数据，与写入的数据对比；

b.两组数据对比无误后开启辐照；

c.辐照过程中，不断读取待测芯片中测得的数据；

d.将测量数据与预设的数据进行对比，记录各芯片不相同的数据；

在执行步骤a之前，还包括：预先通过测试板固定、连接待测芯片，并通过主控板控制辐照测试系统、以及读取、记录待测芯片中的数据；其中，所述测试板和所述主控板沿竖直方向平行放置，并且，所述测试板与所述主控板在沿辐射源照射方向上依次设置。