专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]芯片检测方法及装置-CN202210323227.4在审
  • 马子仪;赵发展 - 中国科学院微电子研究所
  • 2022-03-30 - 2023-10-24 - G01N27/72
  • 本发明公开了芯片检测方法及装置,涉及芯片检测技术领域。本发明在待测芯片上电后,向待测芯片的多个输入端口依次输入测试信号,同时向待测芯片输入测试指令,待测芯片执行某个输入端口对应的某种测试指令时,测试信号会有特定的信号流路径,信号流路径上由于有信号流过,测试信号会影响信号流路径的磁场,这样对待测芯片进行扫描后可以感知待测芯片表面的磁场强度变化,通过获取的待测芯片磁场图像可以绘制出待测芯片的电路结构,若待测芯片的电路结构与原始芯片的电路结构不同,则确定待测芯片被篡改或为伪造,可以识别出被篡改或伪造的芯片。
  • 芯片检测方法装置
  • [发明专利]一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备-CN202310281354.7在审
  • 马子仪;赵发展 - 中国科学院微电子研究所
  • 2023-03-21 - 2023-08-08 - G01R33/10
  • 本发明公开一种微显示驱动芯片检测方法、装置、系统及电子设备,涉及驱动芯片检测技术领域,应用于包括磁场传感器的微显示驱动芯片检测系统中,所述方法包括:在将所述磁场传感器放置至待测未封装微显示驱动芯片表面后,通过扫描确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的磁场图像;在所述磁场图像与原始设计磁场图像匹配的情况下,确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的驱动电路检测合格;在所述磁场图像与所述原始设计磁场图像不匹配的情况下,确定所述待测未封装微显示驱动芯片对应的所述驱动电路检测不合格,可以实现在微显示驱动芯片进行封装之前,实现对驱动电路性能的检测,提高驱动芯片测试的稳定性和可靠性。
  • 一种显示驱动芯片检测方法装置系统电子设备
  • [发明专利]一种efuse存储电路-CN202310233286.7在审
  • 赵晨阳;刘海南;李多力;王锦任;赵发展;马全刚;李博 - 中国科学院微电子研究所
  • 2023-03-06 - 2023-07-18 - G11C17/16
  • 本发明公开一种efuse存储电路,涉及集成电路技术领域。efuse存储电路包括:每一行包括至少两个存储单元的efuse存储阵列、多个位线控制单元、编程控制单元、读取控制单元和数据读出单元;其中,多个位线控制单元的个数与efuse存储阵列的行数一致,每个位线控制单元与efuse存储阵列中的每一行的所有存储单元连接;编程控制单元和读取控制单元分别与位线控制单元连接;数据读出单元分别与编程控制单元和读取控制单元连接;每一列的存储单元和对应的字线连接,多个位线控制单元均和共享位线连接;多个存储单元和多个位线控制单元共用同一个编程控制单元和读取控制单元,以在编程和读取完成后最终通过数据读出单元存储对应的数据。
  • 一种efuse存储电路
  • [发明专利]基于VS的CNTFET模型参数方法及相关方法和设备-CN202111654016.0在审
  • 杨晨;卜建辉;刘艺璇;刘海南;赵发展 - 中国科学院微电子研究所
  • 2021-12-30 - 2023-07-11 - G06F30/20
  • 本发明公开了一种基于VS的CNTFET模型参数和模型确定方法及相关设备。该方法包括:获取CNTFET的工艺参数、物理参数和器件实测数据;根据工艺参数、物理参数和器件实测数据获取模型参数,其中,模型参数包括修正载流子迁移率,修正载流子迁移率是根据低场载流子迁移率和修正系数确定的。本申请实施例提供的方法是对基于VS的CNTFET模型的低场载流子迁移率利用修正系数对其进行修正得到修正低场载流子迁移率。以此修正低场载流子迁移率和其他模型参数利用原VS‑CNTFET进行仿真得出的结果与实际试验结果的吻合度有很大提升,提高了模型精度,使得仿真结果更为可信,为CNTFET的开发和研究提供了很好的数据支撑。
  • 基于vscntfet模型参数方法相关设备
  • [发明专利]一种模拟开关电路-CN202111333670.1在审
  • 王士平;蔡小五;韩添;赵发展;刘海南;郝乐 - 中国科学院微电子研究所
  • 2021-11-11 - 2023-05-12 - H03K17/687
  • 本申请公开一种模拟开关电路,涉及电路技术领域,能够在传输信号超过模拟开关电路的电源电压时,正常实现关断功能,避免模拟开关电路的失效问题。模拟开关电路,包括:传输模块,所述传输模块包括第一PMOS管,所述第一PMOS管的源极用于接入待传输信号;第一电平移位模块,所述第一电平移位模块的第一输入端用于接入控制信号,所述第一电平移位模块的第二输入端用于接入所述待传输信号,所述第一电平移位模块的输出端与所述第一PMOS管的栅极电连接;所述第一电平移位模块用于在所述控制信号为控制所述第一PMOS管关闭的高电平信号,且所述待传输信号大于所述控制信号时,保持所述第一PMOS管的源极与栅极的电位相同。
  • 一种模拟开关电路

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