[发明专利]一种多通道SRAM单粒子测试方法及装置

说明书

本发明提供了一种多通道SRAM单粒子测试装置，包括：测试板和主控板；其中，测试板用于固定、连接待测芯片；主控板用于控制辐照测试系统，并读取、记录待测芯片中的数据。该装置能够同时实现对多个SRAM器件单粒子效应进行测试，获得单粒子效应特征参数，提高对被测器件抗单粒子效应能力预估的准确性；还可实时检测被测器件工作电流的大小，防止闩锁效应的发生。

技术领域

本发明涉及器件可靠性领域，特别地，涉及一种单粒子测试方法及装置。

背景技术

由于SRAM存储器具有存取速度快等优点，航天器研制中大量使用SRAM来存储配置信息、测试数据等。而航天器在空间中飞行，一直处于带电粒子构成的辐射环境中，空间辐射环境中的高能质子、重离子，大气环境中的中子都能导致航天器中的SRAM器件发生单粒子效应，使SRAM中存储的数据发生随机改变，影响器件的可靠性，所以航天器中SRAM器件抗单粒子效应的能力直接关系着航天器的稳定性。

现有的单粒子测试系统，没有专门针对SRAM器件进行的测试，在测试SRAM器件单粒子效应时，不能同时监测芯片的闩锁效应，而且效率不高。

因此，亟需一种能够有效检测SRAM中单粒子效应的方法。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种多通道SRAM单粒子测试装置和方法，可高效地同时测试多片SRAM芯片，节省测试时间，在测试的过程中，还可以硬件检测芯片的闩锁效应，减少电磁干扰。该装置包括：

测试板和主控板；其中，

测试板用于固定、连接待测芯片；

主控板用于控制辐照测试系统，并读取、记录待测芯片中的数据。其中，所述主控板包括：

电源模块，用于将输入电源转化为各模块所需要的不同电压；

通信模块，用于接收外部信号；

缓存模块，用于读写测试数据；

主控模块，用于实现控制信号的命令，为各模块提供时序控制；电平转换模块，用于转换被测芯片接口电平与FPGA接口电平；第一接口模块，用于连接主控板和测试板。

其中，所述测试板包括第二接口模块和测试夹具；其中，

所述第二接口模块，用于连接主控板和测试板；

所述测试夹具为待测SRAM提供固定。

所述测试夹具的数量为N，其中N为1、2、3、4……等。

其中，所述测试板和控制板沿竖直方向平行放置；所述测试板和控制板上挖有空槽，用于放置数据排线；所述空槽的数量为N，其中N为0、1、2、3、4……等。

相应的，本发明还提供了一种多通道SRAM单粒子测试方法，包括：

a.将测试数据写入待测芯片中，并读出待测芯片中的数据，与写入的数据对比；

b.两组数据对比无误后开启辐照；

c.辐照过程中，不断读取待测芯片中测得的数据；

d.将测量数据与预设的数据进行对比，记录不相同的数据。

本发明提供了一种基于FPGA的多通道SRAM器件单粒子效应测试系统，该系统能够同时实现对多个SRAM器件单粒子效应进行测试，获得单粒子效应特征参数，提高对被测器件抗单粒子效应能力预估的准确性。该系统还可实时检测被测器件工作电流的大小，防止闩锁效应的发生。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：