[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 201410714978.4 | 申请日: | 2014-12-01 |
公开(公告)号: | CN105244381A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 加藤俊亮;川口雄介;野津哲郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 房永峰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体装置,在第1导电型的半导体基板上,依次设有第1导电型的第1半导体层、第2导电型的第2半导体层以及第1导电型的第3半导体层。形成有:第1沟槽,将第2半导体层及第3半导体层贯通;第2沟槽,与第1沟槽离开;第3沟槽,与第2沟槽离开;第1槽,设置成俯视观察时与将第1沟槽、第2沟槽及第3沟槽连结的方向平行,具备:第1至第3绝缘膜,分别设在第1至第3沟槽的内部;第1至第3导电部,分别设在第1至第3沟槽的内部,并分别设在第1至第3绝缘膜的内侧;源极,与第1至第3导电部电连接,并设在第3半导体层上;第4绝缘膜,设在第1槽的内部;栅极,设在第4绝缘膜的内侧;以及漏极,设在半导体基板的背面侧。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具备:第1导电型的半导体基板;第1导电型的第1半导体层,形成在上述基板上;第2导电型的第2半导体层,形成在上述第1半导体层上;以及第1导电型的第3半导体层,形成在上述第2半导体层上,并且形成有:第1沟槽,在与上述基板的表面垂直的方向上贯通上述第2半导体层及第3半导体层;第2沟槽,在与上述基板的表面垂直的方向上贯通上述第2半导体层及第3半导体层,并与上述第1沟槽离开;第3沟槽,在与上述基板的表面垂直的方向上贯通上述第2半导体层及第3半导体层,并与上述第2沟槽离开;以及第1槽,在与上述基板的表面垂直的方向上贯通上述第2半导体层及第3半导体层,并设置成俯视观察时与将上述第1沟槽、第2沟槽及第3沟槽连结的方向平行,该半导体装置具备:第1绝缘膜、第2绝缘膜及第3绝缘膜,分别形成在上述第1沟槽、第2沟槽及第3沟槽的内部;第1导电部、第2导电部及第3导电部,分别形成在上述第1沟槽、第2沟槽及第3沟槽的内部,并分别形成在上述第1绝缘膜、第2绝缘膜及第3绝缘膜的内侧;源极,与上述第1导电部、第2导电部及第3导电部电连接,形成在上述第3半导体层上;第4绝缘膜,形成在上述第1槽的内部;栅极,形成在上述第4绝缘膜的内侧;以及漏极,设在上述基板的背面侧。
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