[发明专利]一种用于4μm NiCr合金薄膜的离子束干法刻蚀方法在审

专利信息
申请号: 201410421026.3 申请日: 2014-08-25
公开(公告)号: CN104241096A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 陈伟;景涛;谢贵久;雷凯;周国方;陈浩 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/3213
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 马强;周栋
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种用于4μm NiCr合金薄膜的离子束干法刻蚀方法,包括以下步骤:①在Al2O3基片上溅射沉积NiCr薄膜;②光刻,形成所需要的图形;③将步骤②所得的Al2O3基片通过专用夹具放入离子束刻蚀机中,用Ar气进行离子束刻蚀;将步骤③所得的Al2O3基片进行湿法去胶,去除残余光刻胶。本发明解决了NiCr薄膜难以采用光刻胶作为掩膜进行4μm NiCr薄膜干法图形化的问题,且工艺简单,容易操作,重复性好,适合用于大规模生产。
搜索关键词: 一种 用于 nicr 合金 薄膜 离子束 刻蚀 方法
【主权项】:
一种用于4μm NiCr合金薄膜的离子束干法刻蚀方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(1)采用离子束溅射法在洗净的Al2O3基片表面制备厚度为4±0.05μm的NiCr合金薄膜层;(2)采用光刻法在NiCr合金薄膜层上制备光刻胶掩膜层,形成掩模图形;所述光刻胶掩膜层材料为SX AR‑PC 5000;(3)将经步骤(2)处理后的Al2O3基片放入离子束刻蚀机,在Ar气环境下进行离子束刻蚀,刻蚀深度等于NiCr合金薄膜层厚度,刻蚀线宽为10±0.5μm;(4)将经步骤(3)处理后的Al2O3基片去胶、洗净、烘干。
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