[发明专利]一种Indel分子标记芯片的利用方法有效

专利信息
申请号: 201410268224.0 申请日: 2014-06-16
公开(公告)号: CN104017880A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 温常龙;于拴仓;许勇;王永勤;董从娟 申请(专利权)人: 北京市农林科学院
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 代理人: 刘春成;荣红颖
地址: 100097*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种Indel分子标记芯片的利用方法,该方法依次包括如下步骤:根据Indel分子标记设计合成覆盖全基因组的Indel探针步骤;合成的Indel探针点样于基片的点样步骤;Indel分子标记芯片的固定步骤;在固定后的所述Indel分子标记芯片上进行杂交的步骤;杂交后的Indel分子标记芯片的洗脱与扫描步骤。该方法简单,容易在实验室中实现,是一个开放式、低成本的实用技术体系,可以应用于指纹鉴定、基因定位、基因聚合鉴定筛选、种子真实度鉴定、遗传背景鉴定及分子标记辅助育种等多个方面,特别地,本发明设计的Indel分子标记芯片可以用于鉴定和筛选黄瓜抗枯萎病和靶斑病基因。
搜索关键词: 一种 indel 分子 标记 芯片 利用 方法
【主权项】:
一种Indel分子标记芯片的利用方法,其特征在于,依次包括如下步骤:根据Indel分子标记设计合成覆盖全基因组的Indel探针步骤;合成的Indel探针点样于基片的点样步骤:先将合成的Indel探针干粉用去离子水配制成浓度为18‑22μM的Indel探针溶液,再将所述探针溶液与点样缓冲液等体积混合均匀,然后将混合均匀的样品转移至多孔板上,并将基片置于点样仪上,按点样仪的点样程序将所述多孔板上的样品点样于基片上,从而得到Indel分子标记芯片;所述Indel分子标记芯片的固定步骤;在固定后的所述Indel分子标记芯片上进行杂交的步骤:首先,根据点样模式,在固定后的芯片周围贴上相应的围栏或反应舱,在所述围栏或反应舱内加入预杂交液,38‑42℃放置15‑20min后去除预杂交液;然后,将包含Indel分子标记的模板进行98℃10min变性,变性后即刻将装有所述模板的离心管置于冰水混合物中并于‑20℃条件下放置5‑10min;之后,向装有所述模板的离心管中加入杂交缓冲液,混合均匀后加入至已经过预杂交液处理的芯片的围栏或反应舱中,其中所述模板与杂交缓冲液的体积比为1:4‑6;最后,将芯片置于湿盒,在40℃~60℃烘箱中进行杂交,杂交时间为1~16h;杂交后的Indel分子标记芯片的洗脱与扫描步骤:吸去芯片上的溶液后加入洗液,于38‑42℃下放置5‑10min,再吸干或离心甩干芯片,进行基因芯片荧光扫描。
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