[发明专利]一种高频小功率晶体管的封装方法及装置有效
申请号: | 201410168907.9 | 申请日: | 2014-04-25 |
公开(公告)号: | CN104078370B | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 陈友龙;赵智平;田文燕;陈江 | 申请(专利权)人: | 中国振华集团永光电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L29/41 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所52100 | 代理人: | 刘楠 |
地址: | 550018 贵州省*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了一种高频小功率晶体管的封装方法及装置。该方法是通过改变上电极与晶体管管座的接触位置,使上电极与晶体管管座接触时能够有效避开极性标志;同时通过减小上电极与晶体管管座的接触面积,使焊接时可以减小焊接电流而确保焊接处的电流密度不变而不影响晶体管管座与管壳之间的焊接质量。本发明通过对上电极的改进,避免了晶体管管座上极性标志与下电极之间的放电,使得晶体管封装的合格率由现有的不足75%提高至95%以上,封装效果良好。 | ||
搜索关键词: | 一种 高频 功率 晶体管 封装 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种高频小功率晶体管的封装方法,其特征在于:该方法是通过改变封装装置的上电极与晶体管管座的接触位置,使封装装置的上电极与晶体管管座接触时能够有效避开极性标志;同时通过减小封装装置的上电极与晶体管管座的接触面积,使焊接时可以减小焊接电流而确保焊接处的电流密度不变而不影响晶体管管座与管壳之间的焊接质量;所述封装装置的上电极底部为圆管状,圆管底部与晶体管管座的接触面为环形,环形的内外径之差小于1mm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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