[发明专利]半导体装置、物理量传感器、电子设备以及移动体在审
| 申请号： | 201410124362.1 | 申请日： | 2014-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN104076273A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 佐藤英树 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3167;G01D5/14 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 黄威;苏萌萌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置、物理量传感器、电子设备以及移动体，其通过使用通用性较高且扫描测试设计较为简单的方法，从而能够抑制电路规模增加且提高故障检测率。半导体装置（1）包括具有扫描测试模式的数字电路（2）。数字电路（2）具有：第一触发器（10、12、14、15或者18），其在扫描测试模式下构成扫描链的一部分；第一选择器（20、21、22、23或者24），其被设置于第一触发器的输入侧。第一选择器在非扫描测试模式下选择第一信号，而在扫描测试模式下选择与第一信号不同的第二信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 物理量 传感器 电子设备 以及 移动 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，其包括具有扫描测试模式的数字电路，所述数字电路具有：第一触发器，其在所述扫描测试模式下构成扫描链的一部分，第一选择器，其被设置于所述第一触发器的输入侧，并且能够在非所述扫描测试模式下选择第一信号，而在所述扫描测试模式下选择与所述第一信号不同的第二信号。
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