[发明专利]半导体装置、物理量传感器、电子设备以及移动体

权利要求书

1.一种半导体装置，其包括具有扫描测试模式的数字电路，

所述数字电路具有：

第一触发器，其在所述扫描测试模式下构成扫描链的一部分，

第一选择器，其被设置于所述第一触发器的输入侧，并且能够在非所述扫描测试模式下选择第一信号，而在所述扫描测试模式下选择与所述第一信号不同的第二信号。

2.如权利要求1所述的半导体装置，其中，

所述数字电路具有第二触发器，所述第二触发器在所述扫描测试模式下构成所述扫描链的一部分，并且输出所述第二触发器的输出信号以作为所述第二信号，

所述半导体装置包括至少一个逻辑元件，所述逻辑元件被设置在从所述第一选择器的输出至所述第一触发器的输入的信号路径上。

3.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述半导体装置包括具有与所述数字电路之间的接口的模拟电路，

所述第二信号为，从所述数字电路向所述模拟电路的输出信号。

4.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述第二信号为，在所述扫描测试模式下输出信号的逻辑电平被固定的逻辑元件的输入信号。

5.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述半导体装置包括具有与所述数字电路之间的接口的模拟电路，

所述第一信号为，从所述模拟电路向所述数字电路的输入信号。

6.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述第一信号为，在所述扫描测试模式下逻辑电平被固定的信号。

7.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述第一选择器在所述扫描测试模式下始终选择所述第二信号。

8.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述数字电路具有第三触发器，所述第三触发器在所述扫描测试模式下构成所述扫描链的一部分，

所述第一选择器在所述扫描测试模式下，根据所述第三触发器的输出信号来选择所述第一信号或所述第二信号。

9.如权利要求1或2所述的半导体装置，其中，

所述第二信号为，在非所述扫描测试模式下不发挥功能的多输入逻辑电路的输出信号。

10.如权利要求9所述的半导体装置，其中，

所述多输入逻辑电路的输入信号的至少一部分为，从所述数字电路向模拟电路的输出信号、或者在所述扫描测试模式下输出信号的逻辑电平被固定的逻辑元件的输入信号。

11.一种物理量传感器，包括：

对物理量进行检测的传感器元件；

权利要求1或2所述的半导体装置，其根据所述传感器元件的检测信号而生成与所述物理量对应的信号。

12.一种电子设备，其包括权利要求1或2所述的半导体装置。

13.一种移动体，其包括权利要求1或2所述的半导体装置。