[发明专利]半导体装置和制造方法有效

专利信息
申请号: 201410095150.5 申请日: 2014-03-14
公开(公告)号: CN104064574B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 藤井宣年;萩本贤哉;青柳健一;香川惠永 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 曹正建;陈桂香
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置,包括:第一基板,具有暴露第一电极和第一绝缘膜的接合表面;绝缘薄膜,覆盖该第一基板的该接合表面;以及第二基板,具有暴露第二电极第二绝缘膜的接合表面,在该第二基板的该接合表面和该第一基板的该接合表面接合在一起并在该第二基板的该接合表面和该第一基板的该接合表面之间夹设该绝缘薄膜的状态下该第二基板接合到该第一基板,该第一电极和该第二电极将该绝缘薄膜的一部分变形并且破坏以使该第一电极和该第二电极彼此直接电连接。还公开了半导体装置的制造方法。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:第一基板,具有暴露第一电极和第一绝缘膜的接合表面,其中,该第一电极包含由铜制造的第一电极膜,以形成待接合表面;绝缘薄膜,覆盖该第一基板的该接合表面;以及第二基板,具有暴露第二电极和第二绝缘膜的接合表面,在该第二基板的该接合表面和该第一基板的该接合表面接合在一起并在该第二基板的该接合表面和该第一基板的该接合表面之间夹设该绝缘薄膜的状态下该第二基板接合到该第一基板,该第二电极包含由铜制造的第二电极膜,以形成待接合表面,该第一电极和该第二电极将该绝缘薄膜的一部分变形并且破坏以使该第一电极和该第二电极彼此直接电连接,其中,当接合在一起的该第一基板和该第二基板在高于铜的成膜温度的温度下热处理时,铜的晶粒迁移并破坏该绝缘薄膜的该一部分。
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