[实用新型]软磁极薄带的磁致伸缩与磁性的测量框有效

专利信息
申请号: 201320659692.1 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN203688790U 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 孙焕德 申请(专利权)人: 宝山钢铁股份有限公司
主分类号: G01R33/18 分类号: G01R33/18;G01R33/12
代理公司: 上海集信知识产权代理有限公司 31254 代理人: 周成;肖祎
地址: 201900 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型是一种软磁极薄带的磁致伸缩与磁性的测量框,包括:支撑架、上样品夹持器、螺线管、一对磁轭、下样品夹持器、反射镜片和激光干涉仪;上样品夹持器和下样品夹持器沿垂直方向布置,用于夹持样品,上样品夹持器支承在支撑架上,一对磁轭由相对的左磁轭和右磁轭组成,可分离和闭合地布置在支撑架的内部空间,在进行磁测时闭合以夹住样品,螺线管容纳在左、右磁轭所形成的空间中,并围绕样品,反射镜片位于下样品夹持器的下端,激光干涉仪与反射镜片间隙相对并安置在防振台上,激光束穿过该间隙,用于测量样品在磁化过程中产生的伸缩量。本实用新型采用竖直放样,提高了测量精度和效率;同时既可测量磁致伸缩,又可测量其磁性能。
搜索关键词: 磁极 伸缩 磁性 测量
【主权项】:
一种软磁极薄带的磁致伸缩与磁性的测量框,与交流磁性测量主机配合测量软磁极薄带的磁致伸缩和磁性能,所述测量框放置在一个防振台(11)上,其特征在于,所述测量框包括:支撑架(2)、上样品夹持器(1)、螺线管(5)、一对磁轭(4、10)、下样品夹持器(6)、反射镜片(7)和激光干涉仪(9);所述上样品夹持器(1)和所述下样品夹持器(6)沿垂直方向布置,用于夹持样品(3),所述上样品夹持器(1)支承在所述支撑架(2)上,所述一对磁轭由相对的左磁轭(10)和右磁轭(4)组成,可分离和闭合地布置在所述支撑架(2)的内部空间,在进行磁测时闭合以夹住样品(3),所述螺线管(5)容纳在左、右磁轭(10、4)所形成的空间中,并围绕所述样品(3),所述反射镜片(7)位于所述下样品夹持器(6)的下端,所述激光干涉仪(9)与所述反射镜片(7)间隙相对并安置在所述防振台(11)上,激光束(8)穿过该间隙,用于测量样品(3)在磁化过程中产生的伸缩量。 
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  • 詹清峰;张晓山;刘宜伟;代国红;李润伟 - 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
  • 2012-09-26 - 2013-01-23 - G01R33/18
  • 本发明提供了一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法。该方法采用由非磁性材料制成的、具有固定曲率半径的非磁性模具对柔性磁性薄膜产生应变,得到所施加应力与无应力存在时的应力差Δσ,然后利用磁光克尔效应测试系统测量该柔性磁性薄膜样品在无应变与应变条件下各向异性场的变化量ΔHK,通过饱和磁致伸缩系数公式λs=ΔHkMs/(3Δσ),直接计算得到该柔性磁性薄膜的饱和磁致伸缩系数λs。与现有磁性薄膜的磁致伸缩系数测量方法相比,本发明具有测量精度高、简单易行、成本低的优点,具有良好的应用前景。
  • 磁致伸缩系数测量仪-201220231291.1
  • 彭保进;高灵材 - 浙江师范大学
  • 2012-05-22 - 2012-12-26 - G01R33/18
  • 本实用新型公开了一种磁致伸缩系数测量仪,包括激光发生器,及依次与激光发生器相连的耦合器、伸缩量采集装置、线圈、可调电源、计算机、放大电路和边缘滤波器,所述边缘滤波器与耦合器相连;利用光纤光栅的中心波长对外界应变敏感的特性,光源通过耦合器进入伸缩量采集装置中的光纤光栅中,通过伸缩量采集装置将磁致材料伸缩产生的长度变化反应于光纤光栅的中心波长的变化,然后反射至耦合器,通过耦合器后经过边缘滤波器将光的波长变化转化成光强的变化,然后用带放大电路将信号转化为适当的电压信号给计算机采集,同时采集线圈两端的电压信号,通过公式计算出线圈产生的磁场,绘制出磁场—伸长量关系图,测得磁致伸缩系数,直观方便,效果好。
  • 一种双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法-201210174911.7
  • 郭金花;冯硕;倪晓俊;卢志超;李德仁;薄希辉;周少雄 - 安泰科技股份有限公司
  • 2012-05-30 - 2012-10-03 - G01R33/18
  • 本发明属于测量技术领域,具体涉及一种双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法,该装置包括样品位置及探头位置调整机构(1),位于样品位置及探头位置调整机构(1)两端的外加磁场(18),以及具有第一电气箱通道(11)和第二电气箱通道(12)的位移数据处理系统(2)。本发明根据平行板电容原理,在外加磁场下,通过测量两组样品(14)所形成的可动的样品电极与探头电极(8-1,8-2)所形成的固定电极之间的电容变化,间接测量样品的伸长或缩短量,完成磁致伸缩测量并通过双通道显示。本发明的双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法具有结构设计简单,测量精度高,可靠性强的优点。
  • 一种测量磁致伸缩系数的新方法-201210121637.7
  • 郭敏强 - 郭敏强
  • 2012-04-24 - 2012-08-01 - G01R33/18
  • 本发明提供了一种测量磁致伸缩系数的新方法,不但改变了以前非平衡电桥操作计算复杂的特点,简洁快速,精度好,操作方便,只须在检验定标之后直接置材料于磁场中,得出检流计的偏转角度α即可,而且消除了因温度、磁阻效应而产生的漂移现象的影响,电桥构成还有温度补偿作用,用非平衡电桥法直接测检流计的偏转角度α解决了光标的滞后效应,更重要的是,解决传统实验室和市场上磁致伸缩测试仪器均为大型专业设备,由于体积大、读数误差较大、操作复杂、价格昂贵等问题,新装置可应用于实际测量,在实验室做进一步推广,对深入精确研究传感器、流体机械、磁电—声换能器、微型马达、超精密加工等领域具有重要意义。
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