[发明专利]半导体元件的制造方法在审
申请号: | 201310499119.3 | 申请日: | 2013-10-22 |
公开(公告)号: | CN103779371A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 秋月伸也;福原淳仁;杉村敏正;高桥智一;水野浩二 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体元件的制造方法,其能够以优异的生产效率制造具有贯通导电路径的半导体元件。本发明的制造方法包括:[工序A],准备半导体晶圆,所述半导体晶圆具有形成有多个半导体元件的有源面、在与该有源面相反侧的面上形成的规定的图案的导电层、以及连接该有源面和其相反侧的面的贯通导电路径;[工序B],在该导电层上形成焊料凸块;以及[工序C],切割该半导体晶圆,其中,该[工序A]包括在具有形成有多个半导体元件的有源面的半导体晶圆的该有源面侧贴附有保护带的状态下,对与该有源面相反侧的面进行磨削的步骤,从该磨削起至[工序C]的切割为止在贴附该保护带的状态下进行。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体元件的制造方法,其包括:工序A,准备半导体晶圆,所述半导体晶圆具有形成有多个半导体元件的有源面、在与该有源面相反侧的面上形成的规定的图案的导电层、以及连接该有源面和其相反侧的面的贯通导电路径;工序B,在该导电层上形成焊料凸块;以及工序C,切割该半导体晶圆,其中,该工序A包括在具有形成有多个半导体元件的有源面的半导体晶圆的该有源面侧贴附有保护带的状态下,对与该有源面相反侧的面进行磨削的步骤,从该磨削起至工序C的切割为止在贴附该保护带的状态下进行。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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