[发明专利]一种成像系统的成像质量检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201310440198.0 申请日: 2013-09-24
公开(公告)号: CN103499432A 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 程雪岷;郝群;康吉强 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院;北京理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种成像系统的成像质量检测方法及系统,所述方法包括如下步骤:成像系统的成像质量检测方法,其特征是,包括如下步骤:(1)生成多幅m×n大小的随机图像并显示在液晶屏上;其中m和n为大于2的自然数;(2)通过待测光学系统将屏幕上的随机图像成像在CCD图像传感器上;(3)根据原始图像和CCD采集到的图像的功率谱密度,得到待测光学系统的二维调制传递函数;(4)用高阶泽尼克多项式来描述波前差,构建波前差方程组后,对调制传递函数与波前差之间的函数关系进行解算,求出待测系统波前差。所述系统包括:随机图像生成装置、二维调制传递函数计算装置、波前差计算装置。
搜索关键词: 一种 成像 系统 质量 检测 方法
【主权项】:
一种成像系统的成像质量检测方法,其特征是,包括如下步骤:(1)生成多幅m×n大小的随机图像并显示在液晶屏上;其中m和n为大于2的自然数;(2)通过待测光学系统将屏幕上的随机图像成像在CCD图像传感器上;(3)根据原始图像和CCD采集到的图像的功率谱密度,得到待测光学系统的二维调制传递函数;(4)用高阶泽尼克多项式来描述波前差,构建波前差方程组后,对调制传递函数与波前差之间的函数关系进行解算,求出待测系统波前差。
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