[发明专利]一种成像系统的成像质量检测方法及系统有效
申请号: | 201310440198.0 | 申请日: | 2013-09-24 |
公开(公告)号: | CN103499432A | 公开(公告)日: | 2014-01-08 |
发明(设计)人: | 程雪岷;郝群;康吉强 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院;北京理工大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518055 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种成像系统的成像质量检测方法及系统,所述方法包括如下步骤:成像系统的成像质量检测方法,其特征是,包括如下步骤:(1)生成多幅m×n大小的随机图像并显示在液晶屏上;其中m和n为大于2的自然数;(2)通过待测光学系统将屏幕上的随机图像成像在CCD图像传感器上;(3)根据原始图像和CCD采集到的图像的功率谱密度,得到待测光学系统的二维调制传递函数;(4)用高阶泽尼克多项式来描述波前差,构建波前差方程组后,对调制传递函数与波前差之间的函数关系进行解算,求出待测系统波前差。所述系统包括:随机图像生成装置、二维调制传递函数计算装置、波前差计算装置。 | ||
搜索关键词: | 一种 成像 系统 质量 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种成像系统的成像质量检测方法,其特征是,包括如下步骤:(1)生成多幅m×n大小的随机图像并显示在液晶屏上;其中m和n为大于2的自然数;(2)通过待测光学系统将屏幕上的随机图像成像在CCD图像传感器上;(3)根据原始图像和CCD采集到的图像的功率谱密度,得到待测光学系统的二维调制传递函数;(4)用高阶泽尼克多项式来描述波前差,构建波前差方程组后,对调制传递函数与波前差之间的函数关系进行解算,求出待测系统波前差。
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