[发明专利]薄型GaInP/GaAs/Ge太阳电池的制备方法无效
申请号: | 201310336493.1 | 申请日: | 2013-08-05 |
公开(公告)号: | CN104347754A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 赵宇;肖志斌;许军;韩志刚 | 申请(专利权)人: | 天津恒电空间电源有限公司;中国电子科技集团公司第十八研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0687 |
代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人: | 李凤 |
地址: | 300384 天津市滨海新区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种薄型GaInP/GaAs/Ge太阳电池的制备方法,包括在GaInP/GaAs/Ge外延片的受光面蒸镀上电极、背光面蒸镀下电极,上电极上蒸镀减反射膜,其特点是:对外延片的衬底进行腐蚀,使厚度0.18mm±0.02mm的外延片减薄至0.14mm以下;由于减小了电池的厚度,提高了电池的柔韧性,延长了电池的使用寿命,通过厚度的减薄,降低了电池的重量,提高太阳电池的功率/重量;采用Au-Ge-Ag-Au上电极和Au-Ge-Ag下电极,提高了电极焊性的牢固度;上电极采用了梳状密栅形栅线结构,有效减小了遮光功率损失与串联电阻功率损失之和;TiO2、Al2O3作为减反射膜,最低了电池表面反射率。 | ||
搜索关键词: | 薄型 gainp gaas ge 太阳电池 制备 方法 | ||
【主权项】:
薄型GaInP/GaAs/Ge太阳电池的制备方法,包括在GaInP/GaAs/Ge外延片的受光面蒸镀上电极、在背光面蒸镀下电极,上电极上蒸镀减反射膜,其特征在于:对GaInP/GaAs/Ge外延片进行衬底的腐蚀,使厚度0.18mm±0.02mm的外延片减薄至0.14mm以下;所述衬底的腐蚀过程包括:用涂胶机在外延片的受光面旋涂胶,放入80~100℃的烘箱中烘烤20~60s,将外延片放入比例为双氧水:氢氟酸=200ml:100ml的溶液中,当外延片厚度减至0.14mm以下,取出外延片,用去离子水清洗,完成对外延片上衬底的减薄。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的