[发明专利]一种真空封装的超薄MEMS芯片及其加工方法有效
申请号: | 201310285649.8 | 申请日: | 2013-07-08 |
公开(公告)号: | CN103359680A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 付世 | 申请(专利权)人: | 深迪半导体(上海)有限公司 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81C1/00;B81C3/00 |
代理公司: | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人: | 齐永红 |
地址: | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种真空封装的超薄MEMS芯片及其加工方法,包括如下步骤:(1)选取标准晶圆材料作为衬底层;(2)在衬底层上制作单层或者多层走线;(3)在结构层上沉积金属层并图形化,然后刻蚀一定深度的凹槽;(4)利用金-金共晶键合方法将衬底层和结构层进行键合;(5)将结构层减薄至所需的厚度;(6)刻蚀出传感器的结构;(7)利用湿法刻蚀制备封盖层的凹槽,将玻璃浆图形化到封盖层;(8)利用稳定的玻璃浆真空封装工艺完成片级封装。本发明降低了高真空封装时产生的应力对器件性能影响。通过在结构层做双面加工来制作电连接和传感器结构,由于都是在一层硅材料做物理加工,不会产生过多的应力影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 真空 封装 超薄 mems 芯片 及其 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种真空封装的超薄MEMS芯片,其特征在于,包括:衬底层,在所述衬底层的表面设置有走线,在走线的表面设置有多个衬底锚点、用于增加真空封装稳定性的金属框架、使衬底层接地的电连接通孔以及外接引脚;结构层,在结构层的表面刻蚀有凹槽,并设置多个用于与衬底锚点电连接的结构锚点以及用于分解外力、划片对准标记的支撑锚点;以及封盖层,其上刻蚀有封盖凹槽,在所述封盖凹槽内生长有氧化硅材料层,在封盖层的四周设置有图形化的玻璃浆;所述结构层通过结构锚点与所述衬底层电连接,所述封盖层通过玻璃浆与所述衬底层真空封装一体。
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