[发明专利]非等量采样方法

摘要

本发明公开了一种非等量采样方法，包括：选择伪码的相关长度N*10v，其中N以及v为正整数；由所述相关长度确定采样比η，使η具有v位小数，并且η*10v和10v互质，并且所述相关长度对应的相关周期为所述伪码的码序列周期的非整数倍；由公式η=Ts/Tc和码片周期Tc确定采样周期Ts；根据采样参数进行采样，根据所采用的伪码及所采用的伪码跟踪环路装置绘制环路S曲线图，并根据伪码跟踪环路装置得到实际码跟踪精度，选择相位延迟分辨力理想且实际码跟踪精度误差较小的最小相关长度，将该最小相关长度对应的采样结果作为最终采样结果。本发明方法通过简单的采样参数选择获取最优的码相位延迟分辨精度，提高数字伪码跟踪环路的码跟踪精度。

主权项

一种非等量采样方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S101，选定伪码的多个相关长度为N*10v，其中N以及v均为正整数，且多个相关长度中v的取值相同；步骤S102，确定采样比η以及采样周期Ts，其中η具有v位小数，并且η*10v和10v互质，N的取值互不相同，且所述相关长度对应的相关周期为所述伪码的码序列周期的非整数倍；步骤S103，根据步骤S101至步骤S102的采样参数进行采样，通过采样结果及伪码跟踪环路装置得到伪码，根据伪码绘制自相关曲线，并根据所述自相关曲线及所述伪码跟踪环路装置，得到不同相关长度下的环路S曲线；步骤S104，根据所采用的伪码跟踪环路装置进行蒙特卡罗环路仿真，得到不同相关长度下的实际码跟踪精度，获得不同实际码跟踪精度与理论码跟踪精度的误差；步骤S105，根据所述环路S曲线及实际码跟踪精度选择使得实际码跟踪精度误差小于设定值的最小相关长度，将所述最小相关长度对应得到的采样结果作为最终采样结果。