[发明专利]非等量采样方法

权利要求书

1.一种非等量采样方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S101，选定伪码的多个相关长度为N*10^v，其中N以及v均为正整数，且多个相关长度中v的取值相同；

步骤S102，确定采样比η以及采样周期T_s，其中η具有v位小数，并且η*10^v和10^v互质，N的取值互不相同，且所述相关长度对应的相关周期为所述伪码的码序列周期的非整数倍；

步骤S103，根据步骤S101至步骤S102的采样参数进行采样，通过采样结果及伪码跟踪环路装置得到伪码，根据伪码绘制自相关曲线，并根据所述自相关曲线及所述伪码跟踪环路装置，得到不同相关长度下的环路S曲线；

步骤S104，根据所采用的伪码跟踪环路装置进行蒙特卡罗环路仿真，得到不同相关长度下的实际码跟踪精度，获得不同实际码跟踪精度与理论码跟踪精度的误差；

步骤S105，根据所述环路S曲线及实际码跟踪精度选择使得实际码跟踪精度误差小于设定值的最小相关长度，将所述最小相关长度对应得到的采样结果作为最终采样结果。

2.如权利要求1所述的非等量采样方法，其特征在于，多个N的取值与其中最小值呈整数倍关系。

3.如权利要求1所述的非等量采样方法，其特征在于，步骤S104中，所述理论码跟踪精度根据步骤S101至步骤S102的采样参数计算得到。

4.如权利要求1所述的非等量采样方法，其特征在于，所述自相关曲线图、环路S曲线均通过MATLAB绘制。

5.如权利要求1所述的非等量采样方法，其特征在于，采用MATLAB进行所述蒙特卡罗环路仿真。