[发明专利]半导体封装件的封装方法及应用其形成的半导体封装件有效
申请号: | 201310047921.9 | 申请日: | 2013-02-06 |
公开(公告)号: | CN103077901A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 余政贤;陈奕廷 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 中国台湾高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体封装件的封装方法及应用其形成的半导体封装件。半导体封装件包括基板、芯片及封装体。芯片具有一面对基板的一第一表面及一远离基板的一第二表面。封装体包覆芯片且具有一凹槽及一上表面,封装体的上表面高于或对齐于芯片的第二表面,其中凹槽与封装体的上表面相连且露出芯片的第二表面,且凹槽的底面低于芯片的第二表面。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 方法 应用 形成 | ||
【主权项】:
一种半导体封装件的封装方法,其特征在于,包括:提供一上模及一下模,该上模包括一可形变元件;设置一基板及一芯片于该下模上,其中该芯片设于该基板上且位于该可形变元件正下方并具有一上表面;合模该下模与该上模形成一模穴,该可形变元件挤压该芯片而形成一环状突部,该环状突部的一底面低于该芯片的该上表面,且该下模与该上模在合模后,该模穴的一顶面对齐或高于该芯片的该上表面;以及填充一封装材料于该下模与该上模之间的该模穴内,其中该封装材料包覆该芯片且覆盖该模穴的该顶面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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