[发明专利]薄膜晶体管、薄膜晶体管阵列面板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310009134.5 申请日: 2013-01-10
公开(公告)号: CN103456793B 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 李制勋;宋俊昊;吕伦钟;鄭華棟 申请(专利权)人: 三星显示有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/08;H01L27/12;H01L21/02;H01L21/28;H01L21/308;H01L21/77
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了薄膜晶体管、薄膜晶体管阵列面板及其制造方法。根据本发明的示例性实施例的薄膜晶体管包括:栅电极;栅极绝缘层,位于栅电极上或位于栅电极下;沟道区域,与栅电极交叠,栅极绝缘层插设在沟道区域与栅电极之间;以及源极区域和漏极区域,相对于沟道区域彼此面对,位于与沟道区域相同的层中,并且连接到沟道区域,其中沟道区域、源极区域和漏极区域包括氧化物半导体,其中源极区域和漏极区域的载流子浓度大于沟道区域的载流子浓度。
搜索关键词: 沟道区域 栅电极 薄膜晶体管 漏极区域 源极区域 载流子 薄膜晶体管阵列面板 栅极绝缘层 氧化物半导体 彼此面对 交叠 制造
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,包括:栅线和连接到所述栅线的栅电极;栅极绝缘层,位于所述栅电极上或位于所述栅电极下;沟道区域,与所述栅电极交叠,所述栅极绝缘层插设在所述沟道区域与所述栅电极之间;源极区域和漏极区域,相对于所述沟道区域彼此面对,位于与所述沟道区域相同的层中,并且连接到所述沟道区域;线形蚀刻停止物和连接到所述线形蚀刻停止物的蚀刻停止物,所述蚀刻停止物交叠所述沟道区域;以及数据线,延伸为与所述栅线交叉,其中所述沟道区域、所述源极区域和所述漏极区域包括氧化物半导体,其中所述源极区域和所述漏极区域的载流子浓度大于所述沟道区域的载流子浓度,和其中在俯视图中所述线形蚀刻停止物平行于所述栅线延伸、交叠所述栅线、以及与所述数据线交叉。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星显示有限公司,未经三星显示有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310009134.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top