[实用新型]一种塑封IC开封装置有效
| 申请号： | 201220734616.8 | 申请日： | 2012-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN203038897U | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 冯海科 | 申请（专利权）人： | 西安芯派电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67 |
| 代理公司： | 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217 | 代理人： | 张震国 |
| 地址： | 710075 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种塑封IC开封装置，包括塑封IC、对塑封IC进行腐蚀的腐蚀装置，以及对塑封IC进行清洗的清洗装置，所述塑封IC表面设置有凹槽，所述腐蚀装置包括盛有腐蚀酸液的第一容器以及盛有无水乙醇的第二容器，所述第一容器内自带有温度计，以保证腐蚀酸液的温度在规定温度范围之内；所述第一容器内的腐蚀酸液滴注在塑封IC的凹槽内。本实用新型在塑封IC表面开设有凹槽，这样，当腐蚀混酸滴注到塑封IC表面时，借助凹槽可以加快腐蚀的速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 塑封 ic 开封 装置 | ||
【主权项】：
一种塑封IC开封装置，其特征在于：包括塑封IC、对塑封IC进行腐蚀的腐蚀装置，以及对塑封IC进行清洗的清洗装置，所述塑封IC表面设置有凹槽，所述腐蚀装置包括盛有腐蚀酸液的第一容器以及盛有无水乙醇的第二容器，所述第一容器内自带有温度计，以保证腐蚀酸液的温度在规定温度范围之内；所述第一容器内的腐蚀酸液滴注在塑封IC的凹槽内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
