[发明专利]Na-Be共掺生长p-ZnO薄膜的方法无效
申请号: | 201210569491.2 | 申请日: | 2012-12-25 |
公开(公告)号: | CN103031597A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 李水丽;何海平;孙陆威;叶志镇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B25/16;C30B29/16;H01L21/02 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开的Na-Be共掺生长p-ZnO薄膜的方法,采用的是等离子体辅助分子束外延方法,以经过射频活化的纯O2为氧源,纯金属Zn为锌源,固体NaF粉末为钠源,金属Be泻流盒提供Be源,通过O等离子体与Zn原子束流、Na离子束流、Be原子束流发生反应,在衬底上沉积生成Na-Be共掺杂p-ZnO薄膜。本发明通过掺入Zn的等价离子Be改变ZnO晶体的电子结构,降低Na的受主能级;通过离子半径较大的Na与离子半径较小的Be共掺,减少基体晶格应变,增加受主Na的固溶度同时减少施主缺陷的引入。本发明制备工艺简单,制得的薄膜质量高,p型导电性能优异,重复性和稳定性良好。 | ||
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【主权项】:
Na‑Be共掺生长p‑ZnO薄膜的方法,其特征是包括以下步骤:1)将经清洗的衬底装到分子束外延设备中,在400~750℃条件下,先在真空中退火10‑45min,再在O等离子体中退火3‑15min;2)以经过射频活化的纯O2为氧源,纯金属Zn为锌源,固体NaF粉末为钠源,金属Be泻流盒提供Be源,调节Zn源温度为250~350℃,Na源温度为400~600℃,Be源温度为1000~1200℃,调节生长室的温度500~600℃,压力为1×10‑5torr~5×10‑5torr,生长Na‑Be共掺p‑ZnO薄膜;3)将步骤2)生长的Na‑Be共掺p‑ZnO薄膜在氧气中以小于5℃/min的速率降温至室温。
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