[发明专利]晶圆边缘的处理装置和系统有效
申请号: | 201210431145.8 | 申请日: | 2012-11-01 |
公开(公告)号: | CN102969226B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 袁超 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,林彦之 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶圆边缘的处理装置和系统,属于半导体技术领域。该装置包括晶圆放置区,用于放置晶圆;溶液容纳单元,用于盛放溶液,设置在所述晶圆放置区下方;边缘处理单元,用于通过自身运动携带所述溶液容纳单元中溶液以清洗或腐蚀所述晶圆的边缘,设置在所述晶圆放置区和所述溶液容纳单元之间且使所述边缘处理单元自身运动时可携带上所述溶液容纳单元中溶液的位置上;控制单元,用于控制所述边缘处理单元对所述晶圆进行清洗或腐蚀。本发明使用同一设备既可以对晶圆的边缘进行清洗和腐蚀等处理,最终降低了晶圆处理的成本。 | ||
搜索关键词: | 边缘 处理 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种晶圆边缘的处理装置,其特征在于,包括:晶圆放置区,用于放置晶圆;溶液容纳单元,用于盛放溶液,设置在所述晶圆放置区下方;边缘处理单元,用于通过自身运动携带所述溶液容纳单元中溶液以清洗或腐蚀所述晶圆的边缘,设置在所述晶圆放置区和所述溶液容纳单元之间且使所述边缘处理单元自身运动时可携带上所述溶液容纳单元中溶液的位置上;控制单元,用于控制所述边缘处理单元对所述晶圆进行清洗或腐蚀;其中,所述边缘处理单元包括转轴,所述转轴外围套设有衬垫,在工作状态时,所述转轴旋转,转轴上的衬垫经过溶液容纳单元时携带溶液,到达顶部时则与晶圆摩擦,以带动所述晶圆转动,同时使所述晶圆压迫所述衬垫,以释放出所述衬垫上携带的所述溶液对所述晶圆的边缘进行腐蚀或清洗。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造